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申请/专利权人：华中科技大学;深圳华中科技大学研究院
摘要：本发明公开了一种基于磁定向浊度的磁纳米粒子成像方法及装置，属于成像技术领域。该方法包括：将磁纳米粒子注入成像视野区域中的待测样品；对待测样品进行光扫描，获取随机状态下的待测样品中磁纳米粒子的浊度A0；对成像视野区域施加激励磁场，磁纳米粒子沿着磁场定向排列，得到磁定向状态下的待测样品；计算两个状态下待测样品的浊度的差值ΔA，并计算得到待测样品中磁纳米粒子的浓度C；根据磁纳米粒子的浓度分布数据，得到磁纳米粒子的二维空间分布成像。该方法的成像方式实现原理简单，在不同光波段下均可实现，在成像的空间分辨率上不存在瓶颈限制；实现低成本、高分辨的无损成像，并且扩展了成像方法的适用场景。
主权项：1.一种基于磁定向浊度的磁纳米粒子成像方法，其特征在于，包括：S1、将磁纳米粒子注入成像视野区域中的待测样品，得到随机状态下的待测样品；S2、对随机状态下的待测样品进行光扫描，获取随机状态下的待测样品中磁纳米粒子的浊度记为A0；S3、对所述成像视野区域施加激励磁场，所述磁纳米粒子沿着磁场定向排列，得到磁定向状态下的待测样品，测量得到其浊度记为AH；S4、计算两个状态下待测样品的浊度的差值ΔA＝AH-A0，并计算得到所述待测样品中各位置的磁纳米粒子的浓度c，得到磁纳米粒子的浓度分布数据；S5、根据磁纳米粒子的浓度分布数据，得到所述磁纳米粒子的二维空间分布成像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华中科技大学 深圳华中科技大学研究院 一种基于磁定向浊度的磁纳米粒子成像方法及装置
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