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一种秒脉冲批量测试算法 

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申请/专利权人:南京纳升微电子科技有限公司

摘要:本发明公开了一种秒脉冲批量测试算法,包括:在授时终端内部,使用双模温度补偿晶体振荡器产生秒脉冲信号;使用与国际原子时间同步的铯原子钟产生标准秒脉冲信号;采用亚纳秒分辨率的数字时间间隔分析仪,实时比对所述秒脉冲信号与所述标准秒脉冲信号,并计算时间偏差;自动调整授时终端的参数,并根据设定的门限评定性能合格性。本发明通过整合铯原子钟与国际原子时间同步技术,实现了秒脉冲信号的亚纳秒级精确比对;采用深度学习网络,自动学习并优化授时终端的性能。利用遗传算法和粒子群优化技术,根据环境和性能数据动态调整系统门限,增强环境适应性。采用模块化和开放接口设计,支持技术升级和未来扩展,适应市场和技术发展。

主权项:1.一种秒脉冲批量测试算法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:在授时终端内部,使用双模温度补偿晶体振荡器产生秒脉冲信号,其中所述晶体振荡器的频率稳定性优于0.1ppm;使用与国际原子时间同步的铯原子钟产生标准秒脉冲信号,铯原子钟的频率稳定性达到10^-14级别;采用亚纳秒分辨率的数字时间间隔分析仪,实时比对所述秒脉冲信号与所述标准秒脉冲信号,并计算时间偏差;基于所述时间偏差结果,自动调整授时终端的参数,并根据设定的门限评定性能合格性。

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权利要求:

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