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申请/专利权人：西安建筑科技大学

摘要：本发明公开了一种面向电性能的带罩天线罩体厚度与阵元位置公差设计方法，建立带罩阵列天线的电性能计算模型，建立带罩阵列天线电性能对天线罩厚度和阵元位置的灵敏度计算模型并计算相应的灵敏度值；确定天线罩厚度尺寸公差变化步长和阵元位置公差变化步长矩阵；建立带罩阵列天线机电耦合模型；计算天线罩厚度尺寸公差；计算阵元归一化位置公差分布矩阵；在考虑天线罩厚度尺寸存在误差的基础上，计算阵元位置公差最大值矩阵；确定阵元位置公差矩阵。本发明对天线罩厚度尺寸和阵元位置进行了公差设计，在阵元位置公差设计过程中考虑了天线罩厚度尺寸加工误差对天线电性能的影响，能放宽阵元位置公差设计对天线副瓣电平的要求。

主权项：1.面向电性能的带罩天线罩体厚度与阵元位置公差设计方法，其特征在于，包括：S1，根据带罩阵列天线的基本结构和电磁工作参数，建立带罩阵列天线的电性能计算模型，计算理想条件下带罩阵列天线的电性能；S2，根据带罩阵列天线的电性能计算模型，建立带罩阵列天线电性能对天线罩厚度和阵元位置的灵敏度计算模型，计算天线电性能对天线罩厚度的灵敏度值和对阵元位置的灵敏度矩阵；S3，确定天线罩厚度尺寸公差的变化步长和阵元位置公差变化的步长矩阵；S4，选取天线罩厚度尺寸公差初始值，对天线罩厚度尺寸误差进行采样；S5，根据带罩阵列天线的电性能计算模型，建立带罩阵列天线的机电耦合模型，计算每个样本对应的天线电性能，统计满足带罩阵列天线的天线罩厚度尺寸误差电性能要求的样本数；S6，判断满足带罩阵列天线的天线罩厚度尺寸误差电性能要求的样本数q占总采样数p的比例是否为95％，若是，则当前误差值即为所求天线罩厚度尺寸公差，进行步骤S8，若不是，则进行步骤S7；S7，如果则放大公差；如果则缩小公差，重复步骤S4～S6，直至所求为天线罩厚度尺寸公差；S8，根据阵元位置的灵敏度矩阵，计算阵元归一化位置公差分布矩阵；S9，选取阵元位置公差最大值初始值矩阵，采样X组阵元位置误差样本；S10，在天线罩厚度尺寸公差允许的范围内，采样得到Y组天线罩厚度误差值；S11，将X组阵元位置误差样本和Y组天线罩厚度误差样本组合，得到P＝X×Y组考虑天线罩厚度尺寸误差的阵元位置误差样本，计算每组样本对应的电性能，统计满足考虑天线罩厚度尺寸误差的阵元位置误差电性能要求的样本数；S12，判断满足考虑天线罩厚度尺寸误差的阵元位置误差电性能要求的样本数Q占总采样数P的比例是否为95％，若是，则当前误差矩阵即为所求阵元位置公差最大值矩阵，据此可确定阵元位置公差矩阵，若不是，则进行步骤S13；S13，如果则放大公差；如果缩小公差，重复步骤S9～S12，直至所求为阵元位置公差最大值矩阵。

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