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一种熔解曲线滤波方法、装置、电子设备及存储介质 

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申请/专利权人:杭州博日科技股份有限公司

摘要:本申请提供了一种熔解曲线滤波方法、装置、电子设备及存储介质,涉及荧光定量检测技术领域,包括:采集荧光定量熔解实验中荧光强度数据,对所述荧光强度数据进行平滑处理;对平滑后荧光强度数据进行三次样条插值,获得三次样条插值曲线;计算三次样条插值曲线各点的负一阶导数数值,得到初始熔解曲线;利用MODWT对初始熔解曲线进行滤波处理,获得滤波后的熔解曲线。针对分辨率较低的荧光强度数据,本申请能够获得滤波效果好,精度高的熔解曲线。

主权项:1.一种熔解曲线滤波方法,其特征在于,包括:采集荧光定量熔解实验中荧光强度数据,对所述荧光强度数据进行平滑处理;对平滑后荧光强度数据进行三次样条插值,获得三次样条插值曲线;计算三次样条插值曲线各点的负一阶导数数值,得到初始熔解曲线;利用MODWT对初始熔解曲线进行滤波处理,获得滤波后的熔解曲线;采集荧光定量熔解实验中荧光强度数据,对所述荧光强度数据进行平滑处理;包括:采集荧光定量后扩增子熔解实验中的荧光强度数据,获得荧光强度数据采样点fi,i为采样点的序号;利用大小不同的滑动窗口对荧光强度数据进行平滑处理,计算不同窗口的荧光强度数据的平滑度;将平滑度最小的滑动窗口得到的平滑处理后的荧光强度数据,作为最终的平滑处理后的荧光强度数据;利用大小不同的滑动窗口对荧光强度数据进行平滑处理;计算不同滑动窗口的荧光强度数据的平滑度;包括:当滑动窗口包括的采样点的个数为M,M为大于1的奇数,计算任一滑动窗口内的M个采样点fj,…fj+M-1的平均值,作为M个采样点的中间点的拟合值: 其中,为第采样点的拟合值;从第一个采样点开始,逐点平移滑动窗口,得到对应的平滑处理后的荧光强度数据: 计算窗口大小为M的平滑度r: 当M分别取值3、5、7和9时,计算得到四个平滑度,以及四组平滑处理后的荧光强度数据;利用MODWT对初始熔解曲线进行滤波处理,得到滤波后的熔解曲线;包括:对初始熔解曲线进行MODWT频带分割,得到多个频带信号;利用固定阈值,对各频带信号进行阈值滤波;对阈值滤波后的各频带信号进行逆MODWT处理,获得滤波后的熔解曲线;所述固定阈值的计算方法为:计算频带信号X的均方根σ:MAD=median|X-medianX|σ=1.4826×MAD其中,median为计算中位数的函数,MAD为绝对偏差;则固定阈值xlim为: N为频带信号X的长度;将该频带信号内幅值低于固定阈值xlim的幅值置0。

全文数据:

权利要求:

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