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申请/专利权人：中南大学
摘要：本发明涉及变流器检测技术领域，公开了一种IGBT老化检测方法及老化检测器；该方法包括分别获取某一工况下变流器稳态运行时IGBT正常、老化时的电流数据，对电流数据做整周期截取，构建IGBT老化特征序列组；查找IGBT老化特征序列组中在预设频段内大于老化检测阈值的频率范围最宽的IGBT老化特征序列，并记录对应的周期和数据处理窗口长度；计算待检测IGBT在不同工况下基于该周期和数据处理窗口长度构成的老化特征序列；若待检测IGBT的老化特征序列在预设频段内大于老化检测阈值，则视为待检测IGBT存在老化。这样能够对无法直接获取与IGBT本身电气特性相关的实验数据的变流器进行IGBT老化检测。
主权项：1.一种IGBT老化检测方法，其特征在于，包括：S1：分别获取某一工况下变流器稳态运行时IGBT正常、老化时的电流数据，对电流数据做整周期截取，得到周期为n的电流数据序列，构成频域数据序列和S2：构建IGBT老化特征序列组，其中，老化特征序列组中的每一IGBT老化特征序列是分别对频域数据序列和进行窗口长度为T的滑窗加权平均得到的；S3：查找IGBT老化特征序列组中在预设频段内大于老化检测阈值的频率范围最宽的IGBT老化特征序列，并记录对应的周期为Nopt，对应的数据处理窗口长度为Topt；S4：计算待检测IGBT在不同工况下基于所述周期Nopt和数据处理窗口长度Topt构成的待检测频域数据序列，根据所述待检测频域数据序列构建待检测IGBT的老化特征序列；S5：若所述待检测IGBT的老化特征序列在所述预设频段内大于老化检测阈值，则视为所述待检测IGBT存在老化。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中南大学 一种IGBT老化检测方法及老化检测器
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