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申请/专利权人：深圳市金泰克半导体有限公司
摘要：本实用新型实施例公开了一种固态硬盘集成测试装置，固态硬盘集成测试装置包括控制单元、第一测试单元、第二测试单元、第三测试单元以及接口单元，控制单元分别与第一测试单元、第二测试单元以及第三测试单元连接；接口单元分别与第一测试单元、第二测试单元以及第三测试单元连接，接口单元用于与固态硬盘连接，通过接口单元能够将固态硬盘连接至第一测试单元、第二测试单元以及第三测试单元，并通过控制单元控制第一测试单元、第二测试单元以及第三测试单元分别对固态硬盘进行对应的测试，因此只需要将固态硬盘接入到接口单元中，就能够实现完成对固态硬盘的全部测试，全程只需一次插拔，操作简单，且不会遗漏测试项目，极大地提高了测试效率。
主权项：1.一种固态硬盘集成测试装置，其特征在于，用于测试固态硬盘，所述固态硬盘集成测试装置包括控制单元、第一测试单元、第二测试单元、第三测试单元以及接口单元，所述控制单元分别与所述第一测试单元、第二测试单元以及第三测试单元连接；所述接口单元分别与所述第一测试单元、所述第二测试单元以及所述第三测试单元连接，所述接口单元用于与所述固态硬盘连接。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市金泰克半导体有限公司 一种固态硬盘集成测试装置
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