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申请/专利权人：罗德施瓦兹两合股份有限公司
摘要：本发明涉及用于分析DUT的测量设备和方法。该测量设备包括：信号发生器，其被配置为生成测试信号；两个或更多个测试端口，其中的每一者用于连接到DUT，并用于将测试信号转发到DUT和或从DUT接收响应信号；两个或更多个信号路径，其中的每一者被布置为将信号发生器电连接到一个测试端口。至少一个信号路径包括：测量单元，其被配置为测量RF信号；参考耦合器，其被配置为将测试信号的去耦部分转发到测量单元；第一测量耦合器，其被配置为将响应信号的第一去耦部分转发到测量单元；和第二测量耦合器，其被配置为将响应信号的第二去耦部分转发到测量单元；第二测量耦合器被配置为调整响应信号的第二去耦部分的特性，使得第二去耦部分不同于第一去耦部分。
主权项：1.一种用于分析被测设备DUT20的测量设备10、特别是矢量网络分析仪，所述测量设备10包括：信号发生器15，所述信号发生器15被配置为生成测试信号；两个或更多个测试端口11，其中，所述两个或更多个测试端口11中的每个测试端口用于连接到所述DUT20，以及用于将所述测试信号转发到所述DUT20和或从所述DUT20接收响应信号；两个或更多个信号路径21，其中，所述两个或更多个信号路径21中的每个信号路径被布置为将所述信号发生器15电连接到所述测试端口11中的一个测试端口；其中，所述两个或更多个信号路径21中的至少一个信号路径包括：-测量单元22，所述测量单元22被配置为测量RF信号；-参考耦合器23，所述参考耦合器23被配置为将所述测试信号的去耦部分转发到所述测量单元22；-第一测量耦合器24，所述第一测量耦合器24被配置为将所述响应信号的第一去耦部分转发到所述测量单元22；以及-第二测量耦合器25，所述第二测量耦合器25被配置为将所述响应信号的第二去耦部分转发到所述测量单元22；-其中，所述第二测量耦合器25被配置为调整所述响应信号的所述第二去耦部分的特性，使得所述响应信号的所述第二去耦部分不同于所述响应信号的所述第一去耦部分。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 罗德施瓦兹两合股份有限公司 用于分析被测设备的测量设备和方法
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