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X射线检查装置以及X射线传感器单元的检查方法 

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申请/专利权人:株式会社石田

摘要:本发明涉及X射线检查装置以及X射线传感器单元的检查方法,X射线检查装置具备:照射部,对被输送的物品照射X射线;X射线传感器单元,具有以光子计数方式检测X射线的传感器部、以及基于从传感器部输出的检测结果来生成图像的图像生成部;以及控制部,具有基于图像检查物品的第一模式、以及判定时间延迟积分驱动时的X射线传感器单元的状态的第二模式,在第二模式下,控制部通过比较基于在时刻t1从传感器部输出的检测结果而生成的第一图像、和对从时刻t1之后到时刻t2为止从传感器部输出的检测结果进行累计而生成的第二图像,来判定X射线传感器单元的状态。

主权项:1.一种X射线检查装置,具备:输送部,输送物品;照射部,对由所述输送部输送的所述物品照射X射线;X射线传感器单元,具有以光子计数方式检测所述X射线的传感器部、以及基于从所述传感器部输出的检测结果来生成图像的图像生成部;以及控制部,具有基于所述图像检查所述物品的第一模式、以及判定时间延迟积分驱动时的所述X射线传感器单元的状态的第二模式,在所述第二模式下,所述传感器部检测未透过所述物品的所述X射线,所述控制部通过比较基于在时刻t1从所述传感器部输出的检测结果而生成的第一图像、和对从所述时刻t1之后到时刻t2为止从所述传感器部输出的检测结果进行累计而生成的第二图像,来判定时间延迟积分驱动时的所述X射线传感器单元的状态。

全文数据:

权利要求:

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