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申请/专利权人：武汉理工大学
摘要：本发明公开了一种基于邻近单元格查找的PCB板天线铜箔过窄检测方法，该方法包括：获取PCB板天线铜箔的第一线段集合，包括外轮廓线段集合和内轮廓线段集合；将第一线段集合中的线段进行分割，并合并过短的直线段，得到第二线段集合；将PCB板划分为小矩形单元格；遍历第二线段集合中的每一条线段，根据线段起点和终点的位置关系确定起点单元格和终点单元格的范围，判断是否存在狭窄部分。本发明提高了生产效率，相较于传统的人工检查或简单测量工具，本发明采用自动化检测方法，能够快速准确地检测PCB板中过于窄的部分；其次提高了检测精度，本发明采用精细的线段分割和规则检测算法，能够更精确地检测出PCB板中天线铜箔过于窄的部分，避免漏检或误判。
主权项：1.一种基于邻近单元格查找的PCB板天线铜箔过窄检测方法，其特征在于，该方法包括：获取PCB板天线铜箔的第一线段集合，包括外轮廓线段集合和内轮廓线段集合；将第一线段集合中的线段进行分割，并合并过短的直线段，得到第二线段集合；将PCB板划分为小矩形单元格；遍历第二线段集合中的每一条线段，根据线段起点和终点的位置关系确定起点单元格和终点单元格的范围，判断是否存在狭窄部分。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉理工大学 基于邻近单元格查找的PCB板天线铜箔过窄检测方法
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