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申请/专利权人:怀斯莱特公司
摘要:本发明涉及一种用于通过偏折仪1对反射物体2或透明物体2进行测量的方法,该偏折仪包括:‑显示器10,其显示动态条纹;‑相机20,其配置为获取由反射物体2反射的条纹的图像和或通过透明物体2透射的条纹的图像;‑计算机30,其配置为运行程序,以基于由相机20获取的图像来执行测量;该方法的特征在于其包括以下步骤:‑在由显示器10、物体2和相机20限定的光学系统的至少两种配置中,连续地获取由物体2反射和或透射的条纹的图像;‑基于获取的图像,运行程序,并且计算在每种配置中在由显示器10、物体2和相机20限定的光学系统内物体2的位置和物体2的形状的可能解;‑通过识别通用于先前计算的可能解的单个解来获得物体2的位置和形状的最终解。
主权项:1.一种用于通过偏折仪1对反射物体2或透明物体2进行测量的方法,所述偏折仪1包括:-显示器10,其显示动态条纹;-相机20,其配置为获取来自由所述反射物体2反射的条纹的图像和或来自通过所述透明物体2透射的条纹的图像;-计算机30,其配置为运行程序,以基于由所述相机20获取的所述图像来执行所述测量;其特征在于,所述方法包括以下步骤:-在由所述显示器10、所述物体2和所述相机20限定的光学系统的至少两种配置中,连续地获取来自由所述物体2反射和或透射的条纹的图像;-基于获取的所述图像,运行所述程序,并且计算在每种配置中在由所述显示器10、所述物体2和所述相机20限定的所述光学系统内所述物体2的位置和所述物体2的形状的可能解;-通过识别通用于先前计算的可能解的单个解来获得所述物体2的所述位置和所述形状的最终解。
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