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申请/专利权人：成都飞机工业(集团)有限责任公司
摘要：本发明涉及无损检测技术领域，特别是涉及一种利用磁响应光子晶体实现无损检测的方法和系统，所述方法包括：磁化待测试件；将磁响应光子晶体封装在柔性塑料薄膜内制成磁响应光子晶体传感器，将磁响应光子晶体传感器贴合于磁化后的待测试件表面；移动磁响应光子晶体传感器扫查待测试件表面，判断磁响应光子晶体传感器是否发生变色，若是，则判断待测试件表面存在缺陷，若否，则判断待测试件表面不存在缺陷。通过本方法和系统，能有效解决检测前需要提前去除表面的油脂、涂料及铁锈等材料清洗问题；也能解决检测中容易造成材料表面污染的问题；也能解决清洗后的液体容易造成环境污染的问题。
主权项：1.一种利用磁响应光子晶体实现无损检测的方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤S1.磁化待测试件（6）；步骤S2.将磁响应光子晶体封装在柔性塑料薄膜内制成磁响应光子晶体传感器（4），将磁响应光子晶体传感器（4）贴合于磁化后的待测试件（6）表面；步骤S3.移动磁响应光子晶体传感器（4）扫查待测试件（6）表面，判断磁响应光子晶体传感器（4）是否发生变色，若是，则判断待测试件（6）表面存在缺陷，若否，则判断待测试件（6）表面不存在缺陷。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 成都飞机工业(集团)有限责任公司 一种利用磁响应光子晶体实现无损检测的方法和系统
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