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自修复阵列天线的可靠性分析方法 

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申请/专利权人:中国人民解放军陆军工程大学

摘要:本申请为自修复阵列天线中阵元的可靠性判断方法及自修复阵列天线的可靠性判断方法,记每个阵元Ai可以连接的TR细胞数目为L,阵元数量为n,TR细胞数量为k,当所述阵元Ai所连接的TR细胞数量为L时,设TR细胞的可靠性函数为rt,计算阵元发生故障的函数pit和阵元Ai的可靠性函数rit;若阵元Ai排列靠后,即i+L‑1k‑1时,再计算TR细胞发生故障的函数pit和阵元Ai的可靠性函数rit,可以准确判断阵元及天线的可靠性。

主权项:1.自修复阵列天线中阵元的可靠性判断方法,其特征在于,记每个阵元Ai可以连接的TR细胞数目为L,阵元数量为n,TR细胞数量为k,当所述阵元Ai所连接的TR细胞数量为L时,设TR细胞的可靠性函数为rt,计算阵元发生故障的函数pit和阵元Ai的可靠性函数rit;若阵元Ai排列靠后,即i+L-1k-1时,再计算TR细胞发生故障的函数pit和阵元Ai的可靠性函数rit。

全文数据:

权利要求:

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