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申请/专利权人:中国科学院上海技术物理研究所
摘要:本发明公开了一种低温刚度测试系统,涉及测试设备技术领域,其技术方案要点是:包括真空冷箱、制冷设备和真空机组,制冷设备及真空机组设置于真空冷箱的外部;真空冷箱包括冷箱壳体,冷箱壳体的内部设置有用于刚度测试的低温冷屏,低温冷屏的内部设置有被测物体,被测物体的顶部触接设置有刚性隔热柱,低温冷屏的内部还设置有柔性冷链,刚性隔热柱的顶面设置有位移传感器。本发明通过真空冷箱内设置的低温冷屏和外部制冷设备的配合,实现了对被测物体和冷屏的均温控制,确保了在超低温条件下的测试环境稳定性;本发明通过外部设置的真空机组对冷箱内部抽真空,满足了对真空测试环境的需求,保证了测试的准确性和可靠性。
主权项:1.一种低温刚度测试系统,其特征是:包括真空冷箱、制冷设备和真空机组,所述制冷设备及所述真空机组对称设置于所述真空冷箱的外部;所述真空冷箱包括冷箱壳体,所述制冷设备的输出端以及所述真空机组的输入端设置于所述冷箱壳体的内部,所述冷箱壳体的顶部设置有通孔,所述通孔的一侧密封设置有真空波纹管,所述通孔的另一侧设置有施力元件,所述施力元件贯穿所述真空波纹管并与所述真空波纹管的内底部触接;所述冷箱壳体的内部设置有用于刚度测试的低温冷屏,所述低温冷屏的内部设置有被测物体,所述被测物体的顶部触接设置有刚性隔热柱,所述低温冷屏的内部还设置有柔性冷链,所述柔性冷链的两端均延伸至所述低温冷屏的内壁,所述柔性冷链的中部设置于所述真空波纹管底端和所述刚性隔热柱顶端之间,所述刚性隔热柱的顶面设置有位移传感器。
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百度查询: 中国科学院上海技术物理研究所 一种低温刚度测试系统
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