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申请/专利权人：慧荣科技股份有限公司
摘要：本发明涉及一种电子装置及电子装置的方法。该电子装置包括一功能电路、一测试模式电路和一验证电路。验证电路基于从测试模式电路提供的时脉信号产生测试波形信号并将其输出到测试模式电路、当对应于测试型样信号的至少一个测试操作被执行时从测试模式电路接收多个测试结果波形信号以及并将多个测试结果波形信号与多个目标结果波形信号进行比较来产生并输出失败结果信号至测试模式电路，失败结果信号用以指示是否发生至少一测试位元失败。
主权项：1.一种电子装置，包括：一功能电路，耦接至至少一信号埠，用以连接至一外部装置，并用以因应于从该外部装置发出的至少一控制信号来执行至少一功能操作；一测试模式电路，耦接至该功能电路，用以控制该功能电路因应于从一验证电路所传送的一测试型样信号来执行至少一测试操作；以及该验证电路，设置于该电子装置内并耦接至该测试模式电路，用以根据该测试模式电路所提供的一时脉信号将该测试型样信号转换为多个测试波形信号、用以产生并输出该多个测试波形信号至该测试模式电路、用以当对应于该测试型样信号的该至少一测试操作被执行时从该测试模式电路接收多个测试结果波形信号、用以将一目标型样信号转换成多个目标结果波形信号以及用以接着将该多个测试结果波形信号与该多个目标结果波形信号进行比较以决定并输出一失败结果信号至该测试模式电路，该失败结果信号用于指示是否发生了至少一失败。
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