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申请/专利权人：成都华微电子科技股份有限公司
摘要：高精度电压信号测试方法，涉及集成电路技术。本发明包括下述步骤：1配置芯片，使待测电压点通过第一开关连接至缓冲器输入端，缓冲器输出端连接至第一引脚，缓冲器输入端连接至第二引脚；2测量缓冲器偏差电压Vos：断开第一开关，通过第二引脚对缓冲器输入端接入参考电压Vref1，测量此时的第一引脚输出电压vout1，通过下式计算Vos：Vos＝Vout1‑Vref1；3测量输出电压Vout：断开第二引脚的输入，测量缓冲器的输出电压值Vout；4以下式计算内部基准电压值Vref：Vref＝Vout‑Vos；Vref即为待测电压点的电压。本发明的有益效果是，测量结果准确，成本低，并且不浪费芯片面积。
主权项：1.高精度电压信号测试方法，其特征在于，包括下述步骤：1配置芯片，使待测电压点通过第一开关连接至缓冲器输入端，缓冲器输出端连接至第一引脚，缓冲器输入端连接至第二引脚；2测量缓冲器偏差电压Vos：断开第一开关，通过第二引脚对缓冲器输入端接入参考电压Vref1，测量此时的第一引脚输出电压vout1，通过下式计算Vos：Vos＝Vout1-Vref13测量输出电压Vout：断开第二引脚的输入，测量缓冲器的输出电压值Vout；4以下式计算内部基准电压值Vref：Vref＝Vout-VosVref即为待测电压点的电压。
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权利要求：
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