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申请/专利权人：上海交通大学
摘要：本发明涉及一种适用于反光不均匀物体的扫描结构光中心轮廓提取方法，方法包括：S1、将彩色相机布置于被测工件上方，并倾斜设置结构激光源，在结构激光源一侧布置相同或近似角度的LED光源；S2、启动结构激光源和LED光源，进行拍摄，获得工件表面的彩色图像；S3、提取所述彩色图像的RGB通道；S4、将图像划分为不同微区，计算LED光图像的平均灰度值，乘以调节系数后作为轮廓提取阈值；S5、基于轮廓提取阈值对结构光图像的各个微区进行中心轮廓提取，将得到的微区轮廓连接并进行形态学处理，得到轮廓提取结果。与现有技术相比，本发明具有兼顾零件轮廓提取的完整性和抗干扰能力等优点。
主权项：1.一种适用于反光不均匀物体的扫描结构光中心轮廓提取方法，其特征在于，方法包括：S1、将彩色相机布置于被测工件上方，并倾斜设置结构激光源，并标定参数，在结构激光源一侧布置相同或近似角度的LED光源，结构激光源发射的结构光的波长和LED光源发射的LED光的波长之差超过一定阈值；S2、启动结构激光源和LED光源，然后触发相机进行拍摄，获得工件表面的彩色图像；S3、提取所述彩色图像的RGB通道，在三个通道中，结构光在其中一个通道a中亮度最高，将通道a中的灰度图作为结构光图像，LED光在通道b中亮度最高，将通道b中的灰度图作为LED光图像；S4、将结构光图像和LED光图像划分为不同微区，在LED光图像的每个微区内计算LED光图像的平均灰度值，每个微区的平均灰度值乘以调节系数后作为结构光图像对应微区的轮廓提取阈值；S5、基于轮廓提取阈值对结构光图像的各个微区进行中心轮廓提取，将得到的微区轮廓连接并进行形态学处理，得到轮廓提取结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海交通大学 适用于反光不均匀物体的扫描结构光中心轮廓提取方法
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