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申请/专利权人：哈尔滨理工大学
摘要：本申请属于测试技术领域，公开了一种用于微毫级颗粒粒度的检测方法及装置，检测方法包含以下步骤：待测样品粉末置于样品盘中，滴加去离子水或乙醇；显微检测装置连接上位机；打开上位机中的检测分析软件；显微镜在软件控制下对样品进行拍照，经过检测分析软件读取图像，进行灰度、二值化、边缘检测、圆半径测量、统计计算处理；样品盘在软件控制下自动平移，显微镜对样品进行拍照；重复步骤三、四若干次，绘制粒径分布曲线，完成检测。检测装置包括显微检测装置、上位机，所述显微检测装置包括显微镜、载物台、样品盘、步进电机、二维平移滑轨、支撑柱、底座、支臂。本申请解决了现有技术中检测微粒粒度分布设备昂贵，操作复杂，非原位等问题。
主权项：1.一种用于微毫米级颗粒粒度的原位检测方法，其特征在于，包含以下步骤：步骤一、将待测样品粉末置于样品盘中，并滴加去离子水或乙醇，使样品颗粒在液体中充分分散；步骤二、将显微检测装置连接上位机，打开上位机中的检测分析软件，调整显微镜焦距，聚焦样品至上位机呈现清晰的样品；步骤三、启动检测，显微镜在检测分析软件控制下对样品进行拍照，所拍摄的图像，经过检测分析软件读取图像，进行灰度、二值化、边缘检测、外接圆、圆半径测量、统计计算处理，获得单个密闭区域的最大外接圆径长即粒径，并对图像中所有颗粒的粒径及形状进行计数；步骤四、样品盘在检测分析软件控制下，根据图像尺寸进行调节，自动进行X方向或Y方向平移，显微镜对样品进行拍照；步骤五、重复步骤三及步骤四若干次，并绘制粒径分布曲线，完成检测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 哈尔滨理工大学 一种用于微毫米级颗粒粒度的原位检测方法及装置
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