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循环冗余校验码生成方法、装置、设备、介质和程序产品 

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申请/专利权人:上海金仕达软件科技股份有限公司

摘要:本申请涉及一种循环冗余校验码生成方法、装置、设备、介质和程序产品。所述方法包括:获取待循环冗余校验的第一网络数据,并根据所述第一网络数据获取输入矩阵,所述第一网络数据为具有预设长度的第一比特序列;获取预设的第一生成多项式,并根据所述第一生成多项式确定所述第一比特序列对应的系数矩阵,所述系数矩阵的行数与所述第一生成多项式的最高幂次相关,所述系数矩阵的列数与所述第一比特序列的长度相关;将所述系数矩阵与所述输入矩阵进行矩阵相乘处理,得到循环冗余校验码,所述循环冗余校验码用于对所述第一网络数据进行循环冗余校验。采用本方法能够提升循环冗余校验的适用性和可靠性。

主权项:1.一种循环冗余校验码生成方法,其特征在于,所述方法包括:获取待循环冗余校验的第一网络数据,并根据所述第一网络数据获取输入矩阵,所述第一网络数据为具有预设长度的第一比特序列B={Dm-1,Dm-2,......,D1,D0};获取预设的第一生成多项式G={Gr,Gr-1,Gr-2,......,G1,G0},并根据所述第一生成多项式确定所述第一比特序列对应的系数矩阵,所述系数矩阵的行数等于所述第一生成多项式G的最高幂次r加一,所述系数矩阵的列数等于所述第一比特序列B的长度m;将所述系数矩阵与所述输入矩阵进行矩阵相乘处理,得到循环冗余校验码,所述循环冗余校验码用于对所述第一网络数据进行循环冗余校验;所述根据所述第一生成多项式确定所述第一比特序列对应的系数矩阵,包括:针对所述第一比特序列B={Dm-1,Dm-2,......,D1,D0}中的每个目标比特Di,根据所述第一生成多项式G计算所述目标比特Di对应的余数项Ri,所述余数项Ri为将比特串左移r位后除以所述第一生成多项式G得到的;所述余数项Ri={Hi,r×Di,Hi,r-1×Di,Hi,r-2×Di,......,Hi,1×Di,Hi,0×Di},其中,{Hi,r,Hi,r-1,Hi,r-2,......,Hi,1,Hi,0}为所述目标比特Di对应的系数因子;根据各所述目标比特对应的所述系数因子,生成所述系数矩阵H,其中,所述系数矩阵

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权利要求:

百度查询: 上海金仕达软件科技股份有限公司 循环冗余校验码生成方法、装置、设备、介质和程序产品

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