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申请/专利权人：深圳星火半导体科技有限公司
摘要：本发明涉及一种存储性能测试分析方法，其包括：获取HOST端与固态存储设备之间传输的协议报文数据；根据所述协议报文数据分析得到存储性能数据。其优点是：通过对固态存储产品运行过程中的协议报文数据进行采集分析得到存储性能数据，存储性能数据由于是以协议报文数据为基础，因此可以达到细粒度级别的性能分析要求。
主权项：1.一种存储性能测试分析方法，其特征在于，包括：获取HOST端与固态存储设备之间传输的协议报文数据；根据所述协议报文数据分析得到存储性能数据；所述的根据所述协议报文数据分析得到存储性能数据的步骤具体包括：获取协议报文数据中读写指令对应的起始时间、结束时间、区块大小以及区块个数；根据所述读写指令对应的起始时间、结束时间、区块大小以及区块个数得到读写性能数据；所述的根据所述读写指令对应的起始时间、结束时间、区块个数以及区块大小得到读写性能数据的步骤具体包括：根据以下计算公式得到所述读写性能数据：SpendTime＝EndTime2-StartTime1；SectorCount＝BlockCount×BlockSize；Performance＝SectorCountSpendTime；式中，SpendTime表示传输所述读写指令中指定数据的耗费时长，EndTime2表示所述读写指令对应的结束时间，StartTime1表示所述读写指令对应的起始时间，Blockcount表示所述读写指令对应的区块个数，Blocksize表示所述HOST端设定的区块大小，SectorCount表示读写指令对应的传输数据字节数，Performance表示所述读写性能数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳星火半导体科技有限公司 存储性能测试分析方法及系统
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