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申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
摘要：本发明公开了一种基摸高斯激光远场发散角测试方法及机构，属于激光通信系统测试技术领域，本发明基摸高斯激光远场发散角测试机构包括：承载镜筒的方位俯仰调整台、设置在方位俯仰调整台一侧用于衰减待测激光的光衰减器；以及设置在方位俯仰调整台另一侧的自准直仪；镜筒位于自准直仪侧安装有红外相机、镜筒位于光衰减器侧安装有施密特校正板；待测激光光路经过光衰减器、施密特校正板后入射到镜筒内、并在镜筒内依次经过主镜、次镜反射后打到红外相机靶面，且次镜设置在主镜位于施密特校正板侧，本发明基于施密特‑卡塞格林成像镜头，具有测量精度高、口径大、焦距长，有利于减轻衍射对测量结果的影响；结构紧凑、测量时装调难度低的有益效果。
主权项：1.一种基模高斯激光远场发散角测试机构，其特征在于，包括：承载镜筒10的方位俯仰调整台2、设置在所述方位俯仰调整台2一侧用于衰减待测激光的光衰减器1；以及设置在所述方位俯仰调整台2另一侧的自准直仪11；所述镜筒10位于所述自准直仪11侧安装有红外相机6、所述镜筒10位于所述光衰减器1侧安装有施密特校正板3；其中，所述待测激光光路经过所述光衰减器1、所述施密特校正板3后入射到所述镜筒10内、并在所述镜筒10内依次经过主镜4、次镜5反射后打到所述红外相机6靶面，且所述次镜5设置在所述主镜4位于所述施密特校正板3侧。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种基模高斯激光远场发散角测试方法及机构
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