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申请/专利权人：深圳市紫光同创电子有限公司
摘要：本申请实施例公开了一种芯片及其使用方法，涉及电子技术领域。其中，该芯片包括：存储单元、数据处理单元、测试控制单元以及检测设备，其中，所述数据处理单元与所述存储单元连接，用于从上位机中获取配置信息并将所述配置信息存储到所述存储单元；所述测试控制单元与所述数据处理单元连接，用于通过所述数据处理单元从所述存储单元获取所述配置信息，并基于所述配置信息配置待测试芯片；所述检测设备分别与所述测试控制单元和所述待测试芯片连接，用于对被配置后的待测试芯片进行检测，以得到测试数据。本申请能够有效提升了测试效率、降低了测试成本。
主权项：1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：存储单元；数据处理单元，所述数据处理单元与所述存储单元连接，用于从上位机中获取配置信息并将所述配置信息存储到所述存储单元，所述配置信息包括位流信息；测试控制单元，所述测试控制单元与所述数据处理单元连接，用于通过所述数据处理单元从所述存储单元获取所述配置信息，并基于所述配置信息配置待测试芯片；以及检测设备，所述检测设备分别与所述测试控制单元和所述待测试芯片连接，用于获取待测试芯片的配置状态，并根据所述待测试芯片的配置状态获取待测试芯片的空片数据、静态数据和动态数据，并将所述空片数据、静态数据和动态数据作为测试数据；其中，所述配置状态包括第一状态、第二状态和第三状态，所述第一状态指所述待测试芯片中不存在所述位流信息的状态，在所述第一状态下获取的待测试芯片数据为空片数据；所述第二状态指所述待测试芯片存在所述位流信息且所述待测试芯片没有运行所述位流信息的状态，在所述第二状态下获取的待测试芯片数据为静态数据；所述第三状态指所述待测试芯片存在所述位流信息且所述待测试芯片正在运行所述位流信息的状态，在所述第三状态下获取的待测试芯片数据为动态数据；所述根据所述待测试芯片的配置状态获取相应的数据，包括：当所述待测试芯片处于第一状态下时，获取所述待测试芯片的空片数据，当所述待测试芯片处于第二状态下时，获取所述待测试芯片的静态数据，当所述待测试芯片处于第三状态下时，获取所述待测试芯片的动态数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市紫光同创电子有限公司 芯片及其使用方法
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