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申请/专利权人：北京八亿时空液晶科技股份有限公司
摘要：本发明提供一种液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质，通过为液晶面板提供工作电压，使其能正常显示不同灰阶画面，打开液晶面板的TFT的开关，为Data信号线提供测量透过率所需的驱动信号，获取液晶面板的屏幕亮度数据，根据屏幕亮度数据绘制电压对透过率曲线，从电压‑透过率曲线中选取需要测量的透过率序列，测量透过率序列中各个透过率下对应的闪烁波形数据，最后对闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱，通过利用闪烁测量的方法来评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响，相比于传统的测量挠曲电系数的方法，测量难度更低，且测量的结果更加直观，能够更加准确的评估挠曲电效应对液晶面板显示效果的影响。
主权项：1.一种液晶面板挠曲电效应评价方法，其特征在于，包括：为被测的液晶面板提供工作电压；打开所述液晶面板的TFT的开关，为所述液晶面板的Data信号线提供测量透过率所需的驱动信号；获取所述液晶面板的屏幕亮度数据，根据所述屏幕亮度数据绘制液晶面板的电压对透过率曲线；从所述电压对透过率曲线中选取需要测量的透过率序列，测量所述透过率序列中各个透过率下对应的闪烁波形数据；对所述闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱；其中，对所述闪烁波形数据进行分析，评估其挠曲电效应强弱，具体包括：获取所述闪烁波形数据对应的频谱数据，记录所述频谱数据中的特定频率处对应的闪烁强度，所述特定频率为所述驱动信号的信号频率的二倍；绘制所述特定频率处的闪烁强度对透过率的变化曲线，通过对比所述变化曲线各测量点闪烁强度大小和特定透过率的闪烁强度来评价挠曲电效应的强弱，所述特定透过率为90%和或100%。
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百度查询： 北京八亿时空液晶科技股份有限公司 液晶面板挠曲电效应评价方法、装置、设备和存储介质
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