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申请/专利权人：上海和伍精密仪器股份有限公司
摘要：本实用新型提供一种双探头校正装置及超声显微镜，包括三轴驱动平台、校正组件、发射组件，三轴驱动平台设置在水槽上，三轴驱动平台包括第一轴驱动电动机、第二轴驱动电动机以及第三轴驱动电动机；校正组件，校正组件设置在第三轴驱动电动机的一端，校正组件包括第一校正机构和第二校正机构，第一校正机构设置在第二校正机构的底部；发射组件，发射组件包括水平线探头和垂直线探头，垂直线探头与校正组件连接，水平线探头设置在第三轴驱动电动机的另一端。通过双探头的设置，校正过程方便快捷，提高校正效率，减少装配误差，提高检测结果的准确性。
主权项：1.一种双探头校正装置，其特征在于，包括三轴驱动平台、校正组件、发射组件：所述三轴驱动平台设置在水槽上，所述三轴驱动平台包括第一轴驱动电动机、第二轴驱动电动机以及第三轴驱动电动机；所述校正组件，所述校正组件设置在所述第三轴驱动电动机的一端，所述校正组件包括第一校正机构和第二校正机构，所述第一校正机构设置在所述第二校正机构的底部；所述发射组件，所述发射组件包括水平线探头和垂直线探头，所述垂直线探头与所述校正组件连接，所述水平线探头设置在所述第三轴驱动电动机的另一端。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海和伍精密仪器股份有限公司 双探头校正装置及超声显微镜
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