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一种GaN器件动态参数测试系统 

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申请/专利权人:梁光胜

摘要:本实用新型公开了一种GaN器件动态参数测试系统,包括控制模块、输入电源模块、开关驱动模块、第一GaN器件、第二GaN器件、负载电感模块与测试模块,所述控制模块连接输入电源模块、开关驱动模块、测试模块与负载电感模块,所述第一GaN器件连接输入电源模块、开关驱动模块、第二GaN器件、测试模块与负载电感模块,所述开关驱动模块与第二GaN器件连接,所述第二GaN器件与输入电源模块、测试模块连接。本实用新型所述的一种GaN器件动态参数测试系统,具备极高的测试灵活性,可以根据需求更换不同的驱动电路板,更改栅极电阻,负载电感等关键器件参数,使用设备精确度高,使得测试结果更加精确。

主权项:1.一种GaN器件动态参数测试系统,包括控制模块1、输入电源模块2、开关驱动模块3、第一GaN器件4、第二GaN器件5、负载电感模块6与测试模块7,其特征在于:所述控制模块1连接输入电源模块2、开关驱动模块3、测试模块7与负载电感模块6,所述第一GaN器件4连接输入电源模块2、开关驱动模块3、第二GaN器件5、测试模块7与负载电感模块6,所述开关驱动模块3与第二GaN器件5连接,所述第二GaN器件5与输入电源模块2、测试模块7连接。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 梁光胜 一种GaN器件动态参数测试系统

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