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申请/专利权人：华为技术有限公司
摘要：一种DDR测试装置、测试系统、测试方法和芯片，用于降低芯片的测试成本和简化测试流程，DDR测试装置包括第一芯片底座、第二芯片底座、固定芯片和接口电路；第一芯片底座与接口电路连接，用于放置被测芯片；第二芯片底座与接口电路连接，放置有固定芯片；固定芯片与接口电路连接，当接收到测试指令时，根据被测芯片在多个测试模式下发送的第一测试信号，确定被测芯片在多个测试模式下发送功能的第一测试结果，并将第一测试结果输出给第二芯片底座，以及生成在多个测试模式下的第二测试信号，并通过接口电路和第二芯片底座输出给第一芯片底座；接口电路，接收第一测试结果和第二测试结果，并将第一测试结果和第二测试结果输出给处理装置。
主权项：1.一种DDR测试装置，其特征在于，包括：第一芯片底座、第二芯片底座、固定芯片和接口电路；所述第一芯片底座与所述接口电路连接，用于放置被测芯片；所述第二芯片底座与所述接口电路连接，所述第二芯片底座上放置所述固定芯片；所述固定芯片与所述接口电路连接，用于当接收到测试指令时，根据所述被测芯片在多个测试模式下发送的第一测试信号，确定所述被测芯片在多个测试模式下发送功能的第一测试结果，并将所述第一测试结果输出给所述第二芯片底座，以及生成在所述多个测试模式下的第二测试信号，并通过所述第二芯片底座和所述接口电路输出给所述第一芯片底座，所述多个测试模式为所述被测芯片和所述固定芯片支持的多个DDR模式；所述接口电路，用于接收所述固定芯片通过所述第二芯片底座发送的第一测试结果，并将所述第一测试结果输出给处理装置，以及接收所述被测芯片通过所述第一芯片底座发送的第二测试结果，并将所述第二测试结果输出给所述处理装置，以使所述处理装置根据所述第一测试结果和所述第二测试结果对所述被测芯片进行分类，其中，所述第二测试结果是所述被测芯片通过所述第一芯片底座接收的所述第二测试信号确定的。
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