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申请/专利权人：上海第二工业大学
摘要：本发明公开了一种基于聚类算法的红外触摸屏多点触摸识别方法；该方法包括以下步骤：采集在X轴方向和Y轴方向被遮挡的扫描线的编号和偏移角度，根据凹坑判断触摸点的数量和触摸直径；对各触摸点在X轴方向和Y轴方向被遮挡的扫描线中的平行扫描线进行取中线处理，并计算所有预处理后的扫描线的交点；利用交点集分类划分聚类算法对交点进行聚类，聚类后的类簇取中心即为候选实际触摸点；计算所有候选实际触摸点的预期扫描线，并对平行扫描线进行取中线处理，与实际预处理后的被遮挡的扫描线进行比对，剔除鬼点。本发明通过采集红外扫描线，结合模式识别和计算几何方法对其进行分析和计算，实现了对触摸点的快速精确识别。
主权项：1.一种基于聚算法的红外触摸屏多点触摸识别方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：扫描线采集和凹坑处理采集在X轴方向和Y轴方向被触摸点遮挡的扫描线的编号和偏移角度，根据因触摸点遮挡在扫描线上形成的凹坑判断触摸点的数量和触摸直径；步骤二：扫描线预处理和计算交点对各触摸点在X轴方向和Y轴方向记录的被遮挡扫描线进行处理，若存在平行扫描线，利用排序算法对多条平行扫描线进行取中线处理，直到每个凹坑内的所有的平行扫描线被处理完毕，计算X轴方向和Y轴方向上所有中线扫描线和非平行扫描线的交点；步骤三：模式识别利用交点集分类划分聚类算法对交点进行聚类，聚类得到的类簇中心为候选实际触摸点；若类簇中心的数量等于触摸点数量，则计算所有类簇的中心，即为实际触摸点的坐标，否则进入步骤四；步骤四：剔除鬼点对每一个候选实际触摸点，以其中心坐标为圆心，以步骤一中预估的触摸直径画圆，假设该触摸点为真实触摸点，记录其被遮挡的扫描线的编号和偏移角度，并对其中的平行扫描线进行取中线操作，得到该候选实际触摸点的预期扫描线，与步骤二中实际被遮挡的扫描线进行比对，若X轴方向和Y轴方向的预期扫描线和实际扫描线基本一致，则判断该候选实际触摸点为实际触摸点，输出其坐标，否则判定为鬼点，将该候选实际触摸点排除。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海第二工业大学 基于聚类算法的红外触摸屏多点触摸识别方法
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