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申请/专利权人：三星电子株式会社
摘要：提供了一种用于估计关于产品的缺陷的核密度函数的阈值的方法、设备和系统。该方法包括：自举采样操作，通过使用根据样本数据的数量从多个带宽估计方法当中选择的带宽估计方法来为样本数据集估计最佳核带宽，基于最佳核带宽来估计与核密度函数的尾部区域相对应的阈值，以及基于多个阈值来提供用于对阈值的不确定性进行量化的定量值。
主权项：1.一种用于估计的方法，包括：基于包括用于产品的特性参数的多个仿真数据的仿真数据集来采样多个样本数据集；通过使用根据所述多个样本数据集中的每个样本数据集中包括的样本的数量从被配置为优化关于产品的缺陷的核密度函数的核带宽的多个带宽估计方法当中选择的带宽估计方法，为所述多个样本数据集中的每个样本数据集估计最佳核带宽；基于为所述多个样本数据集中的每个样本数据集估计的最佳核带宽，为所述多个样本数据集中的每个样本数据集估计与所述核密度函数的尾部区域相对应的阈值；以及基于所述多个样本数据集的阈值，提供其中与所述核密度函数的尾部区域相对应的阈值的不确定性被量化的定量值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 三星电子株式会社 估计产品缺陷的核密度函数的阈值的方法、设备和系统
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