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可重构物理不可克隆电路及其控制方法 

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申请/专利权人:张江国家实验室

摘要:本发明的可重构物理不可克隆电路包括多个阻变存储器单元,阻变存储器单元具有第一选通晶体管、一端分别与第一选通晶体管的漏极连接的第一RRAM电阻、第二RRAM电阻;与第一RRAM电阻的另一端、第二RRAM电阻的另一端连接,通过使建立电流在第一RRAM电阻、第二RRAM电阻中流过来进行提取操作,以使第一RRAM电阻、第二RRAM电阻中的一个处于低阻态的提取模块;以及与第一RRAM电阻的另一端、第二RRAM电阻的另一端连接,通过检测被选中的阻变存储器单元中的第一RRAM电阻、第二RRAM电阻的阻态并产生与第一RRAM电阻、第二RRAM电阻的阻态对应的PUF数值来进行测量操作的测量模块。

主权项:1.一种可重构物理不可克隆电路,其特征在于,包括:多个阻变存储器单元101,所述阻变存储器单元101具有第一选通晶体管1011、第一RRAM电阻1013、第二RRAM电阻1015,所述第一RRAM电阻1013的一端、第二RRAM电阻1015的一端分别与所述第一选通晶体管1011的漏极连接;提取模块105,所述提取模块105与所述第一RRAM电阻1013的另一端、第二RRAM电阻1015的另一端连接,通过使建立电流在所述第一RRAM电阻1013、第二RRAM电阻1015中流过来进行提取操作,以使所述第一RRAM电阻1013、第二RRAM电阻1015中的一个处于低阻态;以及测量模块107,所述测量模块107与所述第一RRAM电阻1013的另一端、第二RRAM电阻1015的另一端连接,通过检测被选中的所述阻变存储器单元101中的所述第一RRAM电阻1013、第二RRAM电阻1015的阻态并产生与所述第一RRAM电阻1013、第二RRAM电阻1015的阻态对应的比较数值来进行测量操作,并将比较数值输入控制单元以产生PUF数值。

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权利要求:

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