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申请/专利权人：艾因蒂克科技(上海)有限公司
摘要：本申请公开了一种用于超声波检测的扫查装置，包括：外支架，用于连接外部施力结构；内支架，其底部设置有四个用于与被测曲面相接触的滚动支撑件，四个所述滚动支撑件呈矩形阵列分布，以使四个所述滚动支撑件能够同时接触被测曲面；探头组件，包括固定设置于所述内支架上的超声波探头，所述超声波探头具有晶片，所述晶片的朝向平行于所述滚动支撑件的支撑方向；其中，所述外支架可转动地连接于所述内支架或者可转动地连接于所述超声波探头，以使所述内支架能够带动所述超声波探头同步相对所述外支架偏转。上述的用于超声波检测的扫查装置在扫查的过程中能够自适应被测曲面曲率的变化，有利于降低操作难度，同时有利于提高检测效率。
主权项：1.一种用于超声波检测的扫查装置，其特征在于，包括：外支架，所述外支架用于连接外部施力结构；内支架，所述内支架的底部设置有四个用于与被测曲面相接触的滚动支撑件，四个所述滚动支撑件呈矩形阵列分布，以使四个所述滚动支撑件能够同时接触被测曲面；探头组件，所述探头组件包括固定设置于所述内支架上的超声波探头，所述超声波探头具有晶片，所述晶片的朝向平行于所述滚动支撑件的支撑方向；其中，所述外支架可转动地连接于所述内支架或者可转动地连接于所述超声波探头，以使所述内支架能够带动所述超声波探头同步相对所述外支架偏转。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 艾因蒂克科技(上海)有限公司 用于超声波检测的扫查装置
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