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分级非对称内核属性检测 

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申请/专利权人:超威半导体公司

摘要:在处理系统内,当处理设备的一个或多个内核被禁用时,线程计数非对称性显现。为了确定此类线程计数非对称性,执行发现操作以基于分级结构级别内每个枚举实例的线程数量来确定处理设备的一个或多个分级结构级别的线程计数非对称性。响应于确定线程计数非对称性,定义非对称分级结构级别内的每个枚举实例的一个线程标识符以确定非对称性的表示。使用对称性的表示,执行与处理系统内的一个或多个应用程序相关联的软件任务。

主权项:1.一种方法,所述方法包括:响应于确定处理设备的分级结构级别处的线程计数非对称性,为所述分级结构级别处的每个枚举实例定义线程标识符以产生所述分级结构级别处的非对称性的表示;以及基于所述分级结构级别处的所述非对称性的所述表示来调度一个或多个任务。

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