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一种等离子体射流径向电子密度分布诊断方法 

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申请/专利权人:西安航天动力测控技术研究所

摘要:本发明提供了一种等离子体射流径向电子密度分布诊断方法,首先基于探针测量得到电子温度分布和饱和离子流,计算基于探针测量的电子密度,并通过数值积分及平均得到线平均电子密度然后利用激光干涉仪或者微波透射仪测量线积分电子密度并以得到的两个线平均电子密度计算校准系数;最后以校准系数与基于探针测量的电子密度的乘积,作为所要得的等离子体射流径向电子密度分布ner。本发明诊断方法相比于传统单一诊断方法,校准精度达到10%,并且实现等离子体射流的高时空分辨率诊断,为深入研究等离子体射流的动态特性和微观结构提供了强有力的诊断工具。

主权项:1.一种等离子体射流径向电子密度分布诊断方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,设定探针测量路径,通过探针多次测量获取等离子体射流电子温度分布,并拟合得到等离子体射流电子温度径向分布函数Te;步骤2,根据步骤1结果,建立电子密度与饱和离子流之间关系式: 其中,ni是电子密度,iir是径向位置的饱和离子流,r代表等离子射流的径向位置;S是探针的物理表面积,z是正离子带电电荷,α是离子速度校正系数,e是电子电量,k是玻尔兹曼常数,mi是离子质量;步骤3,按照与步骤1相同测量路径,通过探针测量获取饱和离子流iir,并根据步骤2建立的关系式计算得到基于探针测量的电子密度ne1r;步骤4,对步骤3计算得到的基于探针测量的电子密度ne1r,计算得到基于探针测量的线平均电子密度 其中,d是探针在径向穿过等离子体射流的距离;步骤5,根据光学原理测量获取等离子体射流线平均电子密度测量路径与步骤1中探针测量路径相同;步骤6,计算校准系数l,所述校准系数为 步骤7,计算等离子体射流径向电子密度分布ner,ner=l*ne1r。

全文数据:

权利要求:

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