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红外光学设备的多参数测量系统 

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申请/专利权人:江苏北方湖光光电有限公司

摘要:本申请公开红外光学设备的多参数测量系统,涉及光学领域,包括红外光源、光路发生器、折叠反射镜、平行光管、被测光学设备、中继物镜、探测器和数据处理器;探测器的成像面位于中继物镜的像点位置,中继物镜的物点位置安装刀口;测量MTF和EFL时,通过三维平移台移动像分析器,使用刀口和配合被测光学设备配合测量,在测量透过率参数时,移除刀口并加装汇聚镜,将安装被测光学设备前后测得像点光强进行比较,获得透过率参数值。该方案在测量像散参数的基础上,还可以测量包括相对照度、主光线角度以及透过率等光强相关的参数,并未通过其它光学系统的级联,因而无需对级联光学系统的MTF进行标定和扣除,使得测量更为简单可靠。

主权项:1.一种红外光学设备的多参数测量系统,其特征在于,包括发射红外光的红外光源1、提供成像物体的光路发生器2、改变光路的折叠反射镜3、对光线准直的平行光管4、被测光学设备5、中继物镜6、用于红外成像检测的探测器7和数据处理器14;探测器7的成像面位于中继物镜6的像点位置,在中继物镜6的物点位置安装有用于遮挡光线的可旋转刀口8;所述被测光学设备5安装在可旋转的电控转台10上,改变刀口8的遮光方向;所述刀口8、中继物镜6和探测器7组成像分析器,像分析器设置在三维平移台11上;测量调制传递函数MTF时,使用电控转台10将被测光学设备5转动至轴外视场角,控制刀口8的旋转方向,通过探测器7采集扩散函数ESF,经数据处理器14对函数ESF进行处理变换获得MTF;测量有效焦距EFL时,通过三维平移台11移动像分析器,在探测器7获得最大输出时确定轴上视场角下的像点位置,并根据像点的像高和轴上视场角的正切值计算EFL;测量透过率参数时,将像分析器上的刀口8移除,在平行光管4与被测光学设备5之间的光路上安装汇聚镜9,通过探测器7测量像点光强,并与未安装被测光学设备5时测量的像点光强进行比较,获得透过率参数值。

全文数据:

权利要求:

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