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申请/专利权人：青岛云路先进材料技术股份有限公司
摘要：本说明书涉及磁性材料技术领域，具体涉及一种非环形磁芯无损检测方法及装置。该方法包括如下步骤：获取待检测磁芯的设定磁性能和设定尺寸；根据所述设定磁性能和所述设定尺寸，选择具有第一磁性能和第一结构的U型检测装置；将所述待检测磁芯通过所述两个柱部搭载到所述U型检测装置，以及调整所述待检测磁芯和所述两个柱部之间的相对位置，使得所述两个柱部中每个柱部和所述待检测磁芯之间的接触面积大于所述待检测磁芯的有效截面积；在第一待检部位上缠绕第一导线，并将所述第一导线的两端分别连接到磁性能检测仪的相应端口上，以使所述磁性能检测仪可检测所述待检测磁芯的磁性能。
主权项：1.一种非环形磁芯无损检测方法，其特征在于，包括如下步骤：获取待检测磁芯的设定磁性能和设定尺寸，所述待检测磁芯的形状为非环形；根据所述设定磁性能和所述设定尺寸，选择具有第一磁性能和第一结构的U型检测装置；其中，所述第一磁性能高于所述设定磁性能；所述第一结构使得当所述待检测磁芯通过所述U型检测装置的两个柱部搭载到所述U型检测装置上时，所述待检测磁芯和所述两个柱部中每个柱部之间的接触面积均大于所述待检测磁芯的有效截面积，并且所述第一结构使得所述两个柱部中每个柱部的任一处的截面积均大于所述待检测磁芯的有效截面积，以及所述U型检测装置的轭部的任一处的截面积均大于所述待检测磁芯的有效截面积，所述轭部为所述U型检测装置中处于所述两个柱部之间的部位；所述第一磁性能包括第一磁导率，所述设定磁性能包括第二磁导率，所述第一磁导率是所述第二磁导率的50倍以上；将所述待检测磁芯通过所述两个柱部搭载到所述U型检测装置，以及调整所述待检测磁芯和所述两个柱部之间的相对位置，使得所述两个柱部中每个柱部和所述待检测磁芯之间的接触面积大于所述待检测磁芯的有效截面积；在第一待检部位上缠绕第一导线，并将所述第一导线的两端分别连接到磁性能检测仪的相应端口上，以使所述磁性能检测仪可检测所述待检测磁芯的磁性能。
全文数据：
权利要求：
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