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申请/专利权人：浙江清芯微电子有限公司

摘要：本发明涉及数据识别技术领域，具体涉及基于自带MCU载波芯片的计量参数智能清洗方法与系统。该发明获得每个周期曲线的波动程度评价；根据每个待测曲线组中每个周期曲线之间数据点的相对距离，获得每个周期曲线之间的累计成本矩阵；进一步获得累计成本矩阵中的最短匹配路径；根据最短匹配路径中每个元素邻域范围内元素的位置特征，获得多个变形区域；根据每个周期曲线之间波动程度评价的差异、每个变形区域内的元素数量以及局部变形度，获得每个周期曲线之间的匹配权值；进一步筛选出优选曲线组；对计量参数进行清洗。本发明通过对周期之间各数据点的匹配距离进行自适应加权，提高对数据清洗的效果。

主权项：1.一种基于自带MCU载波芯片的计量参数智能清洗方法，其特征在于，所述方法包括：获取数据计量系统在每个周期内每个监测时刻下的计量参数，构成每个周期曲线中的数据点；根据每个周期曲线中数据点的波动特征，获得每个周期曲线的波动程度评价；根据每个周期曲线之间所述波动程度评价的差异获得多个待测曲线组；在每个待测曲线组中，根据每个周期曲线之间数据点的相对距离，获得每个周期曲线之间的累计成本矩阵，并获得累计成本矩阵中的最短匹配路径；根据所述最短匹配路径中每个元素邻域范围内元素的位置特征，获得多个变形区域；根据每个变形区域内元素的数值特征获得局部变形度；根据每个周期曲线之间所述波动程度评价的差异、每个变形区域内的元素数量以及局部变形度，获得每个周期曲线之间的匹配权值；根据每个待测曲线组内每个周期曲线之间的所述匹配权值筛选出优选曲线组；根据所述优选曲线组对计量参数进行清洗；所述波动程度评价的获取方法包括：采用AMPD算法获得每个周期曲线上数据点的极大值；根据波动程度评价的获取公式获得波动程度评价，波动程度评价的获取公式为： ；表示周期曲线的波动程度评价；表示第个数据点的计量参数；表示第个数据点的计量参数；表示极大值数据点对应的序号；表示第个极大值数据点对应监测时刻；表示第个极大值数据点对应监测时刻；表示周期曲线上数据点的个数；表示周期曲线上所有计量参数的均值；表示周期曲线上所有计量参数的标准差；表示求最大值函数；表示求平均值函数。

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