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申请/专利权人：科威尔技术股份有限公司

摘要：本发明公开了一种适用于IGBT动态测试的脉冲电流值校准方法，所述方法包括以下步骤：获取空心电感允许通过的最大电流值，得到脉宽总时间，根据脉宽总时间进行分档，IGBT动态测试电路根据分档结果进行脉宽测试得到不同档位下的脉冲电流值；获取不同档位下的等效电感，并计算平均电感值，从而建立该空心电感的初步数学模型即电感表；获取未修正脉宽时间；获取修正的脉宽时间；将步骤四的计算结果作为输入量返回步骤四再次计算得到最终校准的脉宽时间并发送给IGBT动态测试电路的控制元件，从而对IGBT动态测试电路中的被测件进行脉冲控制；本发明的优点在于：效果明显、操作简单、适用性强。

主权项：1.一种适用于IGBT动态测试的脉冲电流值校准方法，其特征在于，所述方法基于IGBT动态测试电路实现，所述IGBT动态测试电路包括空心电感，所述方法包括以下步骤：步骤一：获取空心电感允许通过的最大电流值，得到脉宽总时间，根据脉宽总时间进行分档，IGBT动态测试电路根据分档结果进行脉宽测试得到不同档位下的脉冲电流值；步骤二：获取不同档位下的等效电感，并计算平均电感值，从而建立该空心电感的初步数学模型即电感表；步骤三：获取未修正脉宽时间；步骤四：获取修正的脉宽时间；步骤五：将步骤四的计算结果作为输入量返回步骤四再次计算得到最终校准的脉宽时间并发送给IGBT动态测试电路的控制元件，从而对IGBT动态测试电路中的被测件进行脉冲控制；所述IGBT动态测试电路包括高压电源P1、开关K1、开关K2、开关K3、电感L1、电容组C1、晶体管Q1、待测件DUT、电流互感器CT1以及电流互感器CT2，待测件DUT包括晶体管Q2和晶体管Q3，所述电容组C1的一端与高压电源P1的正极连接，所述电容组的另一端与高压电源P1的负极连接，晶体管Q1的漏极接电容组C1的一端，所述晶体管Q1的源极接开关K1的一端以及晶体管Q2的漏极；开关K1的另一端接开关K2的一端以及电感L1的一端，开关K2的另一端接高压电源P1的负极以及晶体管Q3的源极，晶体管Q2的源极与晶体管Q3的漏极连接，电感L1的另一端通过开关K3分别接晶体管Q2的源极以及晶体管Q3的漏极；所述电流互感器CT1接到开关K1与晶体管Q2之间，所述电流互感器CT2接到所述开关K2与晶体管Q3之间；电感L1为空心电感；所述步骤一包括：将空心电感的标称感量L标称，测试电压U，允许通过的最大电流值Imax均代入公式L*didt=U，得到分档脉宽总时间T10，再以该时间的十分之一进行分档，分成10档，得到等差递增的10档脉宽T1至T10，控制IGBT动态测试电路分别按10档脉宽进行测试，记录对应的脉冲电流值Ipulse1至Ipulse10；所述步骤二包括：将测试电压U、脉宽T1至T10和对应的脉冲电流值Ipulse1至Ipulse10代入公式L=Udidt，得到这10档脉宽下的等效电感L1至L10，并计算得到平均电感值L'，从而建立了该空心电感的初步数学模型即电感表；所述步骤三包括：通过公式Ton1=L'*IsetUset得到未修正脉宽时间Ton1，其中，Iset为任一在允许通过的最大电流值Imax内的电流值，Uset为当前测试电压；所述步骤四包括：根据未修正脉宽时间Ton1找出对应的档位，查步骤一的脉宽档位找到下限脉宽T下限，上限脉宽T上限，根据步骤二的电感表查找到下限脉宽对应的电感值L下限，上限脉宽对应的电感值L上限；其中，下限脉宽T下限为小于Ton1的最大档位脉宽；上限脉宽T上限为大于Ton1的最小档位脉宽；根据L''=L上限-L下限T上限-T下限*Ton1-T下限+L下限得到修正的电感值L''；然后根据Ton2=L''*IsetUset得到修正的脉宽时间Ton2。

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