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轴系精度测量方法、装置、刺晶设备及存储介质 

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申请/专利权人:迈为技术(珠海)有限公司

摘要:本申请提供了一种轴系精度测量方法、装置、刺晶设备及存储介质,涉及LED巨量转移技术领域,解决了相关技术中对轴系精度的测量效率较低且精度较差的问题,本申请方案通过采集标定板上标记点对应光栅坐标,以计算相应的轴系精度参数,从而对标定板的轴系精度进行视觉测量,测量不易受到环境因素影响,使得测量更加有效,测量精度更好,而且利用刺晶设备的器件有助于简化对轴系精度的测量,操作简单而且还能够提升测量效率。

主权项:1.一种轴系精度测量方法,其特征在于,应用于刺晶设备,所述刺晶设备包括相机和标定板,所述相机用于拍摄所述标定板上的标记点,且所述相机处于标定完成状态以将所述相机对应的相机坐标系关联于光栅坐标系,所述轴系精度测量方法包括:按照预设指令,移动所述相机并将所述相机的视野中心对齐所述标定板上的初始标记点,以获取所述初始标记点对应的光栅坐标;根据所述标定板的标记点间距,确定作为每次移动所述相机的移动间距;基于所述移动间距,依次沿第一移动方向以及第二移动方向逐步移动所述相机,且每次完成步进后均将所述相机的视野中心对齐目标标记点,以获取同一方向的多个目标标记点对应的光栅坐标,所述第一移动方向平行于所述标定板对应的标定板坐标系的第一坐标轴,所述第二移动方向垂直于所述第一移动方向;根据在不同方向上获取多个目标标记点对应的光栅坐标,确定所述标定板上的标记点所对应的轴系精度参数;在所述轴系精度参数中的所有子项参数均满足对应的阈值的情况下,确定所述标定板的轴系精度满足要求;其中,所述轴系精度参数包括第一直线度和第二直线度,所述根据在不同方向上获取多个目标标记点对应的光栅坐标,确定所述标定板上的标记点所对应的轴系精度参数,包括:在沿同一方向获取到多个所述目标标记点对应的光栅坐标后,根据所得到多个光栅坐标,确定对应于所述第一移动方向的第一拟合直线和对应于所述第二移动方向的第二拟合直线;基于所述第一拟合直线、所述第二拟合直线以及在同一方向上对应的多个光栅坐标,分别确定对应于所述第一移动方向的第一直线度以及对应于所述第二移动方向的第二直线度。

全文数据:

权利要求:

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