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申请/专利权人：伟摩有限责任公司
摘要：示例实施例涉及基于杂散光的范围识别光学检测器系统中的缺陷。示例实施例包括方法。该方法包括使用光学检测器系统捕获包括明亮对象的场景的图像。该方法也包括确定明亮对象在图像中的位置。此外，该方法包括基于明亮对象在图像中的位置，确定在图像中表示的来自明亮对象的杂散光的范围。另外，该方法包括通过将在图像中表示的来自明亮对象的杂散光的范围与杂散光的预定阈值范围进行比较，确定光学检测器系统中是否存在一个或多个缺陷。杂散光的预定阈值范围对应于杂散光的预期范围。
主权项：1.一种方法，包括：使用光学检测器系统捕获包括明亮对象的场景的第一图像；确定明亮对象在第一图像中的位置；基于明亮对象在第一图像中的位置，确定在第一图像中表示的来自明亮对象的杂散光的第一范围，其中，确定在第一图像中表示的来自明亮对象的杂散光的第一范围包括：识别第一图像中与杂散光的主区域分开的杂散光的一个或多个次区域，基于一个或多个次区域的数量或者主区域与一个或多个次区域之间的分隔，确定在第一图像中表示的来自明亮对象的杂散光的第一范围；以及通过将在第一图像中表示的来自明亮对象的杂散光的第一范围与杂散光的预定阈值范围进行比较，确定在光学检测器系统中是否存在一个或多个缺陷，其中，杂散光的预定阈值范围对应于杂散光的预期范围；在确定在光学检测器系统中存在一个或多个缺陷时，执行校正动作；在执行校正动作之后，使用光学检测器系统捕获场景的第二图像；确定在第二图像中表示的杂散光的第二范围；将杂散光的第二范围与杂散光的第一范围进行比较，以确定在光学检测器系统中是否仍然存在一个或多个缺陷。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 伟摩有限责任公司 基于杂散光的范围识别光学检测器系统中的缺陷
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