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瓷层缺陷的检测方法、装置和检测平台 

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申请/专利权人:珠海格力电器股份有限公司

摘要:本发明公开了一种瓷层缺陷的检测方法、装置和检测平台。其中,该方法包括:获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;根据所述待检测照片判断所述待检测瓷层是否存在缺陷,其中,在所述待检测瓷层存在缺陷时,所述待检测照片携带有与目标图片不同的信息,所述目标图片为不存在缺陷的瓷层的照片;在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。本发明解决了人工检查缺陷不可靠的技术问题。

主权项:1.一种瓷层缺陷的检测方法,其特征在于,包括:获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷;在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置:其中,所述方法还包括:在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之前,对所述搪瓷产品进行编码,得到产品序号编码;在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之后,将所述产品序号编码和所述待检测照片关联存储;其中,所述搪瓷产品为搪瓷内胆,获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片包括:按照目标时间间隔或者目标步长旋转拍摄所述搪瓷内胆的侧壁,得到多个侧壁图片;在完成拍摄所述搪瓷内胆的侧壁之后,拍摄所述搪瓷内胆的底盖图像;将所述多个侧壁图片和所述底盖图像进行拼接,得到所述待检测照片。

全文数据:瓷层缺陷的检测方法、装置和检测平台技术领域[0001]本发明涉及检测领域,具体而言,涉及一种瓷层缺陷的检测方法、装置和检测平台。背景技术[0002]在检测搪瓷内胆时,尤其是搪瓷内胆表面时,目前只能进行人工检验。通过经验判断搪瓷内胆的瓷层是否存在缺陷。但是,由于需要检测的范围比较大,且搪瓷内胆存在死角区域,人工无法准确的判断出是否存在缺陷,容易导致缺陷检测不可靠的技术问题。[0003]针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。发明内容[0004]本发明实施例提供了一种瓷层缺陷的检测方法、装置和检测平台,以至少解决人工检查缺陷不可靠的技术问题。[0005]根据本发明实施例的一个方面,提供了一种瓷层缺陷的检测方法,包括:获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺;在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。[0006]可选地,在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之后,所述方法还包括:扫描所述搪瓷产品的识别码,其中,所述识别码用于表示所述搪瓷产品的身份信息;将所述待检测照片和所述识别码关联存储。[0007]可选地,所述方法还包括:在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之前,对所述搪瓷产品进行编码,得到产品序号编码;在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之后,将所述产品序号编码和所述待检测照片关联存储。[0008]可选地,比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷包括:对所述待检测照片与所述目标图片进行比对,其中,所述目标图片包括第一图片和第二图片,所述第一图片为无缺陷产品的图片,所述第二图片为有缺陷产品的图片;在所述目标图片为第一图片的情况下,若所述待检测照片携带有与所述第一图片不同特征的情况下,确定所述待检测瓷层存在缺陷;在所述目标图片为第二图片的情况下,若所述待检测照片携带有与所述第二图片的缺陷信息相同特征的情况下,确定所述待检测瓷层存在缺陷。[0009]可选地,所述搪瓷产品为搪瓷内胆,获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片包括:按照目标时间间隔或者目标步长旋转拍摄所述搪瓷内胆的侧壁,得到多个侧壁图片;在完成拍摄所述搪瓷内胆的侧壁之后,拍摄所述搪瓷内胆的底盖图像;将所述多个侧壁图片和所述底盖图像进行拼接,得到所述待检测照片。[0010]可选地,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置之后,所述方法还包括:判断所述缺陷的类型是否为可修复类型;在所述缺陷的类型为可修复类型的情况下,对所述搪瓷产品进行修复处理;在所述缺陷的类型为不可修复类型的情况下,对所述搪瓷产品进行报废处理。[0011]根据本发明实施例的一个方面,提供了一种瓷层缺陷的检测平台,包括:产品输送装置,用于输送搪瓷产品运动;检测工位,设置在所述产品输送装置的输送路径上,用于设置检测所述搪瓷产品的设备;摄像机,设置在所述检测工位上,用于在搪瓷产品运动到所述检测工位时,拍摄所述搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;处理器,与所述摄像机相连接,用于比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺,在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。[0012]可选地,所述检测工位还设置有:伺服驱动导轨,与所述摄像机相连接,用于驱动所述摄像机运动到所述搪瓷产品的内部,并控制所述摄像机在所述搪瓷产品的内部上下移动,或者旋转。[0013]可选地,所述伺服驱动导轨上还安装有光源,与所述摄像机一起运动,用于为所述摄像机提供拍摄所需照明。[0014]可选地,所述检测平台还包括:夹紧装置,与所述检测工位对应设置,用于在所述搪瓷产品运动到所述检测工位时,将所述搪瓷产品夹紧。[0015]可选地,所述检测平台还包括:识别装置,与所述检测工位相邻设置,用于在所述搪瓷产品运动到所述检测工位时,识别所述搪瓷产品的识别码。[0016]可选地,所述检测平台还包括:抓取设备,与所述检测工位相邻设置,用于从所述产品输送装置将所述搪瓷产品抓取到所述检测工位。[0017]可选地,所述检测平台还包括:下线机器人,与所述检测工位相邻设置,用于将存在缺陷的搪瓷产品从所述检测工位上移除。[0018]可选地,所述检测平台还包括:通信装置,连接在所述处理器和所述摄像机之间,用于将所述摄像机拍摄的照片传输给所述处理器。[0019]根据本发明实施例的一个方面,提供了一种瓷层缺陷的检测装置,包括:获取单元,用于获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;检测单元,用于比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷;标记单元,用于在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。[0020]本实施例对搪瓷的瓷层进行拍摄,并比对出拍摄的照片是否提示瓷层有缺陷,在提示瓷层有缺陷的情况下,在照片中标记出缺陷的位置,便于后续对瓷层进行处理,这种利用照片比对查找瓷层缺陷的方案,可以对搪瓷产品的所有瓷层进行检测,避免了人工检查时的漏检,解决人工检查缺陷不可靠的技术问题。附图说明[0021]此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:[0022]图1是根据本发明实施例的一种瓷层缺陷的检测方法的流程图;[0023]图2是根据本发明实施例的一种的瓷层缺陷的检测平台的示意图;[0024]图3是根据本发明实施例的摄像机与产品输送线的示意图;[0025]图4是根据本发明实施例的瓷层缺陷的检测平台的示意图;[0026]图5是根据本发明实施例的瓷层缺陷的检测装置的示意图。具体实施方式[0027]为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。[0028]需要说明的是,本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。[0029]根据本发明实施例,提供了一种瓷层缺陷的检测方法的方法实施例,需要说明的是,在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行,并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。[0030]图1是根据本发明实施例的瓷层缺陷的检测方法,如图1所示,该方法包括如下步骤:[0031]S102,获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片。[0032]搪瓷产品的形状可以是扁平状,圆筒状、圆柱状、方筒状或者其他不规则的形状。待检测瓷层可以是圆筒状的搪瓷产品的内侧瓷层,还可以是圆筒状的搪瓷产品的外侧瓷层,对于扁平状的搪瓷产品来说,待检测瓷层可以是搪瓷产品的表面瓷层。[0033]可选地,所述搪瓷产品为搪瓷内胆,获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片包括:按照目标时间间隔或者目标步长旋转拍摄所述搪瓷内胆的侧壁,得到多个侧壁图片;在完成拍摄所述搪瓷内胆的侧壁之后,拍摄所述搪瓷内胆的底盖图像;将所述多个侧壁图片和所述底盖图像进行拼接,得到所述待检测照片。[0034]利用摄像机拍摄搪瓷产品的待检测瓷层的照片,当摄像机拍摄一次照片无法拍摄到整个待检测瓷层的情况下,可以利用摄像机多次进行拍摄,得到多张照片,然后对得到的多张照片进行拼接,得到整个待检测瓷层的待检测照片。[0035]例如,对于圆筒状的搪瓷内胆,瓷层位于搪瓷内胆的内侧。摄像机伸入到搪瓷内胆的内侧旋转拍摄内胆内侧表面的照片,得到多个侧壁的照片。在拍摄照片时每隔单位时间或者旋转距离拍照一次,根据内胆的长短进行多次拍摄。在内胆较长时,可以先在靠近内胆开口的部分旋转拍摄,完成拍摄后,再在靠近内胆底部的位置旋转拍摄,以便拍摄内胆的整个内侧表面。在拍摄内胆的侧壁时,控制任何连续两张图像均有约丨厘米的长度重叠,有利于缺陷检测,防止漏检。在拍摄完内胆的侧壁之后,再拍摄内胆的底部。该摄像机可以是高速拍摄摄像机,降低摄像机运动所导致的抖动对照片的影响。在摄像机运动时,可以采用匀速运动。[0036]在完成拍摄内胆的侧壁和底盖之后,对该搪瓷内胆的所有照片进行拼接,得到待检测照片,以便进一步判断搪瓷内胆的瓷层是否有缺陷。[0037]S104,比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷。[0038]对待检测照片进行图像分析,比对待检测照片与目标图片,从而找出待检测照片中与目标图片不同的信息。由于目标图片是不存在缺陷的瓷层的照片,如果待检测照片包括与目标图片不同的信息,说明该待检测照片是存在缺陷的瓷层的照片。[0039]可选地,比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷包括:对所述待检测照片与所述目标图片进行比对,其中,所述目标图片包括第一图片和第二图片,所述第一图片为无缺陷产品的图片,所述第二图片为有缺陷产品的图片;在所述目标图片为第一图片的情况下,若所述待检测照片携带有与所述第一图片不同特征的情况下,确定所述待检测瓷层存在缺陷;在所述目标图片为第二图片的情况下,若所述待检测照片携带有与所述第二图片的缺陷信息相同特征的情况下,确定所述待检测瓷层存在缺陷。[0040]在比对时可以先对待检测照片进行图像编码,然后与目标图片的图像编码进行比较。在比对待检测照片与第一图片时,查找出待检测照片的图像编码与第一图片的图像编码不同的地方。如果能查找到不同的图像编码,则确定该待检测照片对应的瓷层存在缺陷,缺陷位置位于该不同的图像编码所表示的位置。在比对待检测照片与第二图片时,查找出待检测照片的图像编码与第二图片中缺陷信息的图像编码相同的地方。如果能查找到相同的图像编码,则确定该待检测照片对应的瓷层存在缺陷,缺陷的类型与第二图片所包含缺陷的类型相同。[0041]S106,在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。[0042]在确定缺陷的情况下,在待检测照片中标记缺陷的位置,也就能确定该缺陷在搪瓷产品的瓷层上的位置,便于后续对该搪瓷产品进一步处理。[0043]本实施例对搪瓷的瓷层进行拍摄,并比对出拍摄的照片是否提示瓷层有缺陷,在提示瓷层有缺陷的情况下,在照片中标记出缺陷的位置,便于后续对瓷层进行处理,这种利用照片比对查找瓷层缺陷的方案,可以对搪瓷产品的所有瓷层进行检测,避免了人工检查时的漏检造成人工检测瓷层缺陷不可靠的技术问题,达到了提高人工检测瓷层缺陷的可靠性的技术效果。[0044]可选地,为了对搪瓷产品进行追踪,在拍摄瓷层的照片时,将照片和搪瓷产品的识别码进行关联,即,在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之后,所述方法还包括:扫描所述搪瓷产品的识别码,其中,所述识别码用于表示所述搪瓷产品的身份信息;将所述待检测照片和所述识别码关联存储。[0045]在搪瓷产品上具有识别码的情况下,直接扫描识别码,并将待检测照片和识别码关联存储。该识别码可以是铭刻在搪瓷产品上的产品序号编码,该产品序号编码可以是条形码、二维码或者其他形式的广品序号编码,还可以是文字形式的产品序号编码等。在扫描得到识别码之后,将识别码传输给计算机或者服务器,与待检测照片一起存储。其中,待检测照片是拼接得到,在拼接之前,摄像机可以每拍一张照片传输一张照片给计算机或者服务器,也可以对整个搪瓷产品的瓷层全部照片都拍摄完之后发送给计算机或者服务器进行存储,在这种情况下,每次发送一张照片都与识别码关联存储。[0046]对搪瓷产品的产品序号编码与相应的缺陷位置和缺陷类型进行关联存储,以便对搪瓷产品进行追踪。例如,在搪瓷产品出现破损时,可以回溯该产品的缺陷位置和缺陷类型,进而判断破损产生的原因。还可以根据破损的原因来优化生产线,使得生产的搪瓷产品不再出现相似缺陷或者不再出现破损问题。[0047]可选地,所述方法还包括:在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之前,对所述搪瓷产品进行编码,得到产品序号编码;在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之后,将所述产品序号编码和所述待检测照片关联存储。[0048]在搪瓷产品上没有识别码的情况下,可以在拍摄待检测瓷层的照片时为搪瓷产品序号编码,将该产品序号编码作为产品的身份编码,以便后续对该产品进行追踪。存储时,利用编码与照片进行关联存储。关联存储于上述识别码的关联存储相同,此处不再赘述。[0049]若存在售后产品出现异常,可随时根据识别码或者编码调用数据库内胆瓷层数据,对瓷层质量进行分析,实现质量追溯,同时根据质量追溯情况,进行工艺优化与质量改善。[0050]在本实施例中可以实现智能检测,可采用以下方案:[0051]内胆搪瓷产品运行到工位时,夹紧装置将内胆夹紧,避免晃动。[0052]机器视觉检测摄像头通过伺服驱动导轨沿内胆中轴线运动,同时带动成像所需光源进入内胆内部拍摄图像。[0053]伺服导轨带动光源和相机匀速进入内胆。在进入的过程中组合光源开启,每隔单位长度拍照一次,根据内胆的长短进行多次拍摄。同时控制任何连续两张图像均有约1厘米的长度重叠,有利于缺陷检测,防止漏检。[0054]相机的高速拍照可以有效降低导轨运动和抖动对拍照产生的影响。[0055]相机每拍摄一次,获得的图像即经由数据线立即传输给计算机,同时完成该图像上的缺陷自动识别和标识。完成每个内胆的多次拍摄后。计算机将采集到的多张图像拼接并展开成一个完整的内胆图像,并进行合格判定。[0056]到达上封头位置时,继续拍摄底盖图像,并传输给计算机,完成缺陷自动识别和标识。[0057]全部拍照完成后,伺服导轨快速退出将机器视觉摄像头退出,完成一次完整的拍摄过程。[0058]本实施例在判断待检测照片是否有缺陷时,可以利用人工干预模式和人工教学模式相结合。由于照片检测依赖于庞大的数据库,在数据库为完备时需要人工进行教学:设置人工干预模式,人工教学模式。对拍摄的内胆部件全局图像后,标记异常位置,由人工进行判定;数据库对人工判定的结果学习。数据库将数据保存后,并传至云端备份,确保数据保存可靠性。[0059]可选地,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置之后,所述方法还包括:判断所述缺陷的类型是否为可修复类型;在所述缺陷的类型为可修复类型的情况下,对所述搪瓷产品进行修复处理;在所述缺陷的类型为不可修复类型的情况下,对所述搪瓷产品进行报废处理。[0060]缺陷的类型包括缺瓷、爆瓷和针孔等。在检测出缺陷的类型是可修复的情况下,可以将该搪瓷产品下线到待处理区,等待进一步处理在检测出缺陷的类型是不可修复的情况下,可以将该搪瓷产品进行报废处理。[0061]本发明实施例还提供一种瓷层缺陷的检测平台。如图2所示,该瓷层缺陷的检测平台包括:[0062]产品输送装置22,用于输送搪瓷产品20运动;搪瓷产品的形状可以是扁平状,圆筒状、圆柱状、方筒状或者其他不规则的形状。待检测瓷层可以是圆筒状的搪瓷产品的内侧瓷层,还可以是圆筒状的搪瓷产品的外侧瓷层,对于扁平状的搪瓷产品来说,待检测瓷层可以是搪瓷产品的表面瓷层。[0063]产品输送装置22可以是流水线,输送搪瓷产品在流水线上运动。该产品输送装置22可以是图3所示的输送链31,搪瓷产品20是图3所示的工件32。[0064]检测工位24,设置在所述产品输送装置的输送路径上,用于设置检测所述搪瓷产品的设备;[0065]检测工位24可以是与产品输送装置22相对设置的位置,如图3所示的工位33。[0066]摄像机26,设置在所述检测工位上,用于在搪瓷产品运动到所述检测工位时,拍摄所述搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片。[0067]摄像机为图3所示的视觉检测摄像头34,设置在图3所示的工位33中。该视觉检测摄像头34可以在工位33中上下移动或者旋转,以便对搪瓷产品的瓷层进行拍摄。[0068]需要说明的是,图2只是示意性的说明各个位置部件之间的关系,并不限定部件的尺寸关系。[0069]处理器28,与所述摄像机26相连接,用于比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺,在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。[0070]对待检测照片进行图像分析,比对待检测照片与目标图片,从而找出待检测照片中与目标图片不同的信息。[0071]在比对时可以先对待检测照片进行图像编码,然后与目标图片的图像编码进行比较。在比对待检测照片与第一图片时,查找出待检测照片的图像编码与第一图片的图像编码不同的地方。如果能查找到不同的图像编码,则确定该待检测照片对应的瓷层存在缺陷,缺陷位置位于该不同的图像编码所表示的位置。在比对待检测照片与第二图片时,查找出待检测照片的图像编码与第二图片中缺陷信息的图像编码相同的地方。如果能查找到相同的图像编码,则确定该待检测照片对应的瓷层存在缺陷,缺陷的类型与第二图片所包含缺陷的类型相同。[0072]在确定缺陷的情况下,在待检测照片中标记缺陷的位置,也就能确定该缺陷在搪瓷产品的瓷层上的位置,便于后续对该搪瓷产品进一步处理。[0073]本实施例对搪瓷的瓷层进行拍摄,并比对出拍摄的照片是否提示瓷层有缺陷,在提示瓷层有缺陷的情况下,在照片中标记出缺陷的位置,便于后续对瓷层进行处理,这种利用照片比对查找瓷层缺陷的方案,可以对搪瓷产品的所有瓷层进行检测,避免了人工检查时的漏检,解决了现有技术检测瓷层缺陷时容易漏检的技术问题。[0074]可选地,如图4所示,所述检测工位还设置有:伺服驱动导轨44,与所述摄像机相连接,用于驱动所述摄像机运动到所述搪瓷产品的内部,并控制所述摄像机在所述搪瓷产品的内部上下移动,或者旋转。[0075]可选地,所述伺服驱动导轨上还安装有光源,与所述摄像机一起运动,用于为所述摄像机提供拍摄所需照明。[0076]可选地,所述检测平台还包括:夹紧装置,与所述检测工位对应设置,用于在所述搪瓷产品运动到所述检测工位时,将所述搪瓷产品夹紧。夹紧装置图3中未示出将待测搪瓷广品夹紧,避免晃动。[0077]可选地,检测平台还包括:识别装置41,与所述检测工位相邻设置,用于在所述搪瓷产品运动到所述检测工位时,识别所述搪瓷产品的识别码45。[0078]如图4所示,在检测工位相邻的位置上设置有识别装置41,该识别装置可以扫描搪瓷产品上的识别码。该识别码可以通过识别装置传输给处理器,以便处理器利用识别码对搪瓷产品和待检测照片进行关联存储。[0079]可选地,所述检测平台还包括:抓取设备,与所述检测工位相邻设置,用于从所述产品输送装置将所述搪瓷产品抓取到所述检测工位。[0080]抓取设备可以从流水线抓取搪瓷产品,并将搪瓷产品放入检测工作进行检测,或者,放入测试工位进行合格性测试。[0081]可选地,所述检测平台还包括:下线机器人42,与所述检测工位相邻设置,用于将存在缺陷的搪瓷产品从所述检测工位上移除。[0082]如图4所示,在检测工位相邻的位置上设置有下线机器人42,该下线机器人可以将有缺陷的搪瓷产品从检测工位上移动到处理区域或者报废区域。其中,可修复的搪瓷产品移动到处理区域,不可以修复的搪瓷产品移动到报废区域。[0083]可选地,所述检测平台还包括:通信装置,连接在所述处理器和所述摄像机之间,用于将所述摄像机拍摄的照片传输给所述处理器。[0084]通信装置可以是有线或者无线通信线路,用于在处理器和摄像机之间进行通信连接。该处理器可以是图4所示的计算机43。该计算机接收到照片之后,可以将数据保存在云端数据库,保证数据的可靠性,便于后续对搪瓷产品进行售后追踪。例如,在搪瓷产品出现问题后,查询数据库的照片,并依据照片判断问题的原因,并以此更新生产流程,避免具有相同问题的搪瓷产品在市场流通。[0085]本发明实施例还提供了一种瓷层缺陷的检测装置。图5是根据本发明实施例瓷层缺陷的检测装置的示意图。如图5所示,该瓷层缺陷的检测装置包括:[0086]获取单元52用于获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;[0087]搪瓷产品的形状可以是扁平状,圆筒状、圆柱状、方筒状或者其他不规则的形状。待检测瓷层可以是圆筒状的搪瓷产品的内侧瓷层,还可以是圆筒状的搪瓷产品的外侧瓷层,对于扁平状的搪瓷产品来说,待检测瓷层可以是搪瓷产品的表面瓷层。[0088]检测单元f54用于比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷;[0089]利用摄像机拍摄搪瓷产品的待检测瓷层的照片,当摄像机拍摄一次照片无法拍摄到整个待检测瓷层的情况下,可以利用摄像机多次进行拍摄,得到多张照片,然后对得到的多张照片进行拼接,得到整个待检测瓷层的待检测照片。[0090]例如,对于圆筒状的搪瓷内胆,瓷层位于搪瓷内胆的内侧。摄像机伸入到搪瓷内胆的内侧旋转拍摄内胆内侧表面的照片,得到多个侧壁的照片。在拍摄照片时每隔单位时间或者旋转距离拍照一次,根据内胆的长短进行多次拍摄。在内胆较长时,可以先在靠近内胆开口的部分旋转拍摄,完成拍摄后,再在靠近内胆底部的位置旋转拍摄,以便拍摄内胆的整个内侧表面。在拍摄内胆的侧壁时,控制任何连续两张图像均有约1厘米的长度重叠,有利于缺陷检测,防止漏检。在拍摄完内胆的侧壁之后,再拍摄内胆的底部。该摄像机可以是高速拍摄摄像机,降低摄像机运动所导致的抖动对照片的影响。在摄像机运动时,可以采用匀速运动。[0091]在完成拍摄内胆的侧壁和底盖之后,对该搪瓷内胆的所有照片进行拼接,得到待检测照片,以便进一步判断搪瓷内胆的瓷层是否有缺陷。[0092]对待检测照片进行图像分析,比对待检测照片与目标图片,从而找出待检测照片中与目标图片不同的信息。由于目标图片是不存在缺陷的瓷层的照片,如果待检测照片包括与目标图片不同的信息,说明该待检测照片是存在缺陷的瓷层的照片。[0093]在比对时可以先对待检测照片进行图像编码,然后与目标图片的图像编码进行比较。在比对待检测照片与第一图片时,查找出待检测照片的图像编码与第一图片的图像编码不同的地方。如果能查找到不同的图像编码,则确定该待检测照片对应的瓷层存在缺陷,缺陷位置位于该不同的图像编码所表示的位置。在比对待检测照片与第二图片时,查找出待检测照片的图像编码与第二图片中缺陷信息的图像编码相同的地方。如果能查找到相同的图像编码,则确定该待检测照片对应的瓷层存在缺陷,缺陷的类型与第二图片所包含缺陷的类型相同。[0094]标记单元56用于在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。[0095]在确定缺陷的情况下,在待检测照片中标记缺陷的位置,也就能确定该缺陷在搪瓷产品的瓷层上的位置,便于后续对该搪瓷产品进一步处理。[0096]本实施例对搪瓷的瓷层进行拍摄,并比对出拍摄的照片是否提示瓷层有缺陷,在提示瓷层有缺陷的情况下,在照片中标记出缺陷的位置,便于后续对瓷层进行处理,这种利用照片比对查找瓷层缺陷的方案,可以对搪瓷产品的所有瓷层进行检测,避免了人工检查时的漏检,解决了现有技术检测瓷层缺陷时容易漏检的技术问题。[0097]在本发明的上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。[0098]在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的技术内容,可通过其它的方式实现。其中,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如所述单元的划分,可以为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,单元或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性或其它的形式。[0099]所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。[0100]另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。[0101]所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备可为个人计算机、服务器或者网络设备等执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、只读存储器R〇M,Read-〇nlyMemory、随机存取存储器RAM,RandomAccessMemory、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。[0102]以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

权利要求:1.一种瓷层缺陷的检测方法,其特征在于,包括:获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷;在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之后,所述方法还包括:^扫描所述搪瓷产品的识别码,其中,所述识别码用于表示所述搪瓷产品的身份信息.将所述待检测照片和所述识别码关联存储。^’3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之前,对所述搪瓷产品进行编码,得到产品序号编码;在获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片之后,将所述产品序号编码和所述待检测照片关联存储。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷包括:对所述待检测照片与所述目标图片进行比对,其中,所述目标图片包括第一图片和第二图片,所述第一图片为无缺陷产品的图片,所述第二图片为有缺陷产品的图片;在所述目标图片为第一图片的情况下,若所述待检测照片携带有与所述第一图片不同特征的情况下,确定所述待检测瓷层存在缺陷;在所述目标图片为第二图片的情况下,若所述待检测照片携带有与所述第二图片的缺陷信息相同特征的情况下,确定所述待检测瓷层存在缺陷。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述搪瓷产品为搪瓷内胆,获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片包括:按照目标时间间隔或者目标步长旋转拍摄所述搪瓷内胆的侧壁,得到多个侧壁图片;在完成拍摄所述搪瓷内胆的侧壁之后,拍摄所述搪瓷内胆的底盖图像;将所述多个侧壁图片和所述底盖图像进行拼接,得到所述待检测照片。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置之后,所述方法还包括:判断所述缺陷的类型是否为可修复类型;在所述缺陷的类型为可修复类型的情况下,对所述搪瓷产品进行修复处理;在所述缺陷的类型为不可修复类型的情况下,对所述搪瓷产品进行报废处理。7.—种瓷层缺陷的检测平台,其特征在于,包括:产品输送装置,用于输送搪瓷产品运动;检测工位,设置在所述产品输送装置的输送路径上,用于设置检测所述搪瓷产品的设备;摄像机,设置在所述检测工位上,用于在搪瓷产品运动到所述检测工位时,拍摄所述搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;处理器,与所述摄像机相连接,用于比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷,在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。8.根据权利要求7所述的检测平台,其特征在于,所述检测工位还设置有:伺服驱动导轨,与所述摄像机相连接,用于驱动所述摄像机运动到所述搪瓷产品的内部,并控制所述摄像机在所述搪瓷产品的内部上下移动,或者旋转。9.根据权利要求8所述的检测平台,其特征在于,所述伺服驱动导轨上还安装有光源,与所述摄像机一起运动,用于为所述摄像机提供拍摄所需照明。10.根据权利要求7所述的检测平台,其特征在于,所述检测平台还包括:夹紧装置,与所述检测工位对应设置,用于在所述搪瓷产品运动到所述检测工位时,将所述搪瓷产品夹紧。11.根据权利要求7所述的检测平台,其特征在于,所述检测平台还包括:识别装置,与所述检测工位相邻设置,用于在所述搪瓷产品运动到所述检测工位时,识别所述搪瓷产品的识别码。12.根据权利要求7所述的检测平台,其特征在于,所述检测平台还包括:抓取设备,与所述检测工位相邻设置,用于从所述产品输送装置将所述搪瓷产品抓取到所述检测工位。13.根据权利要求7所述的检测平台,其特征在于,所述检测平台还包括:下线机器人,与所述检测工位相邻设置,用于将存在缺陷的搪瓷产品从所述检测工位上移除。14.根据权利要求7所述的检测平台,其特征在于,所述检测平台还包括:通信装置,连接在所述处理器和所述摄像机之间,用于将所述摄像机拍摄的照片传输给所述处理器。15.—种瓷层缺陷的检测装置,其特征在于,包括:获取单元,用于获取搪瓷产品的待检测瓷层的照片,得到待检测照片;检测单元,用于比对所述待检测照片和目标图片来判断所述待检测瓷层是否存在缺陷;标记单元,用于在判断出所述待检测瓷层存在缺陷的情况下,在所述待检测照片中标记出所述缺陷的位置。

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