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申请/专利权人：株式会社理光
摘要：本发明的名称为制备用于MALDI质谱的测量样品的方法、装置和基板。一种制备用于MALDI质谱的测量样品的方法，该方法包括：以将激光束被施加到与包括基质的表面相对的基板的表面上的方式，将激光束施加到包括用于制备用于MALDI质谱的测量样品的基质的基板上，基质被布置在基板的表面上，以使得基质从基板飞出以布置在MALDI质谱的分析物的预定位置处，其中基板包括激光能量吸收材料，并且其中激光束的激光能量的波长为400nm或更长。
主权项：1.一种制备用于MALDI质谱的测量样品的方法，所述方法包括：以将激光束施加到与包括基质的表面相对的基板的表面上的方式，将所述激光束施加到包含用于制备用于MALDI质谱的所述测量样品的所述基质的基板上，所述基质布置在所述基板的表面上，使得所述基质从所述基板飞出以布置在MALDI质谱的分析物的预定位置处，其中所述基板包含激光能量吸收材料，其中所述激光束的激光能量的波长为400nm或更长，并且其中所述激光能量吸收材料位于所述基板上，并且所述基质位于所述激光能量吸收材料上。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社理光 制备用于MALDI质谱的测量样品的方法、装置和基板
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