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申请/专利权人：济宁学院

摘要：本发明涉及荧光分析技术领域，具体涉及基于光谱特征的量子点油墨快速检测方法，该方法包括：获取量子点油墨的荧光光谱数据；对激发光谱和发射光谱的波段差异进行分析，构建双谱递变差异系数以及斯托克斯位移；获取双谱波长位移残差序列；结合变分模态分解算法构建双谱波长位移残差序列的残差递变系数以及模态混淆系数；获取双谱残差模态混淆系数；设置前溯光谱验证窗口；结合双谱残差模态混淆系数构建前溯混淆验证系数；获取噪声干扰系数；获取维纳滤波平滑系数；采用维纳滤波算法获取滤波后的荧光光谱；根据滤波后的荧光光谱完成量子点油墨耐受性的检测。本发明旨在对光谱数据降噪，提升量子点油墨耐受性检测的准确度。

主权项：1.基于光谱特征的量子点油墨快速检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取量子点油墨的荧光光谱数据，包括量子点油墨的激发光谱和发射光谱；根据相邻波段的激发光谱和发射光谱差异获取激发光谱和发射光谱各对应波长的双谱递变差异系数；根据激发光谱和发射光谱同一波段对应波长的光谱反射强度差异获取激发光谱和发射光谱各对应波长的斯托克斯位移；根据激发光谱和发射光谱各对应波长的双谱递变差异系数以及斯托克斯位移获取双谱波长位移残差序列；根据双谱波长位移残差序列结合变分模态分解算法获取双谱波长位移残差序列的残差递变系数以及模态混淆系数；根据双谱波长位移残差序列的残差递变系数以及模态混淆系数获取各采样时刻量子点油墨荧光光谱的双谱残差模态混淆系数；设置前溯光谱验证窗口；根据前溯光谱验证窗口各采样时刻的双谱波长位移残差序列元素分布结合双谱残差模态混淆系数获取各采样时刻的前溯混淆验证系数；根据各采样时刻的前溯混淆验证系数以及双谱残差模态混淆系数结合双谱波长位移残差序列获取各采样时刻各波段的噪声干扰系数；根据各采样时刻各波段的噪声干扰系数获取维纳滤波平滑系数；根据各采样时刻各波长对应的量子点油墨荧光光谱结合对应维纳滤波平滑系数采用维纳滤波算法获取滤波后的荧光光谱；根据滤波后的荧光光谱完成量子点油墨耐受性的检测；所述根据相邻波段的激发光谱和发射光谱差异获取激发光谱和发射光谱各对应波长的双谱递变差异系数，具体步骤包括：对于各采样时刻；将激发光谱各对应波长与后一对应波长的光谱反射强度的差值绝对值保存为激发光谱变化量；将发射光谱各对应波长与后一对应波长的光谱反射强度的差值绝对值保存为发射光谱变化量；将所述激发光谱变化量与所述发射光谱变化量的差值保存为光谱差异；计算各对应波长与后一对应波长的差值；将所述光谱差异与所述差值的比值的绝对值作为以自然常数为底数的指数函数的指数；将所述指数函数的计算结果作为激发光谱和发射光谱各对应波长的双谱递变差异系数；所述根据激发光谱和发射光谱各对应波长的双谱递变差异系数以及斯托克斯位移获取双谱波长位移残差序列，具体为：对于各采样时刻，计算激发光谱与发射光谱在各对应波长的光谱反射强度的差值绝对值；计算激发光谱和发射光谱各对应波长的双谱递变差异系数、斯托克拉斯位移、所述差值绝对值的乘积；获取激发光谱和发射光谱对应波长的平均斯托克斯位移；将所述乘积与所述平均斯托克斯位移的比值作为双谱波长位移残差序列的各元素。

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