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申请/专利权人：北京理工大学
摘要：本发明属于微波器件以及天线技术领域，具体涉及一种基于反向场追踪的透镜天线及其台阶厚度的设计方法，该透镜天线包括金属辐射薄膜、介质基底以及带台阶透镜，金属辐射薄膜生长在介质基底的一端，带台阶透镜装在介质基底的另一端；本方法通过设置平面远场激励来确定高斯束腰的位置，从而确定透镜天线的带台阶透镜及其台阶的尺寸，并根据后续片上天线的需求继续优化带台阶透镜的尺寸；它可以实现，增加透镜天线设计的自由度，同时使得仿真过程的中间结果可视化效果更好，并且还能显著降低设计透镜天线所需的计算量，可以在绝大多数电磁仿真软件内就完成透镜天线的设计，使反向场追踪法具有更好的通用性。
主权项：1.一种基于反向场追踪的透镜天线，其特征在于：包括金属辐射薄膜（1）、介质基底（2）以及带台阶透镜（4）；所述透镜天线的台阶厚度的设计方法包括以下步骤：步骤一：选取透镜的直径、透镜台阶的厚度、介质基板的厚度和介质基板的长宽尺寸，在电磁仿真软件中建模，模型包括介质基板和带台阶的带台阶透镜（4），带台阶透镜（4）装在介质基板的一面；步骤二：设置远场平面波激励，通过观察带台阶透镜天线中的场分布，在电磁仿真软件中对带台阶透镜的台阶厚度进行优化，等电磁波传播到金属辐射薄膜（1）位置时没有到达高斯束腰，则增大台阶厚度，反之则减小台阶厚度，使得高斯束腰的位置恰好位于金属辐射薄膜（1）的位置，此时在金属辐射薄膜（1）位置的介质表面的电场高斯束腰的半径为；步骤三：设计金属辐射薄膜（1）上的片上天线辐射结构，该步可根据具体需求设计具体结构，仿真天线辐射结构时，将带台阶透镜（4）删除以加快仿真过程速度，此时得到片上天线的谐振电流半径r；步骤四：比较与r，如果设计发射天线，即可，如设计接收天线，需要；如果需要增大，则减小带台阶透镜（4）的半径，返回步骤二继续优化，如需要减小，则增大带台阶透镜（4）的半径，返回步骤二继续优化。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京理工大学 一种基于反向场追踪的透镜天线及其台阶厚度的设计方法
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