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申请/专利权人：杭州中安电子股份有限公司
摘要：本实用新型涉及老化测试技术，公开了一种带夹断功能的SiC单元及老化测试装置，其包括测试SiC模块，其还包括隔离单元、电源单元和电源控制单元；电源单元提供测试电源至测试SiC模块，隔离单元对输入至测试SiC模块的电压进行隔离，电源控制单元用于控制电源单元的通断。本实用新型通过对SiC单元上下桥同时加电的方案，减少老化试验时间。并且控制SiC单元下桥栅极和源极之间的截止电压VGS，该截止电压VGS浮地可控，有效防止SiC单元的栅极和源极之间可能会因为压差过大而损坏。
主权项：1.一种带夹断功能的SiC单元，包括测试SiC模块，其特征在于，还包括隔离单元、电源单元和电源控制单元；电源单元提供测试电源至测试SiC模块，隔离单元对输入至测试SiC模块的电压进行隔离，电源控制单元用于控制电源单元的通断；电源控制单元包括MOS芯片U3、电平转换单元U1和驱动单元U2；电平转换单元U1用于转换输入的电压，并将转换的电压传送至驱动单元U2，驱动单元U2用于对MOS芯片U3进行驱动，MOS芯片U3与隔离单元连接用于控制电源单元。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州中安电子股份有限公司 一种带夹断功能的SiC单元及老化测试装置
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