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申请/专利权人：苏州晶晟微纳半导体科技有限公司
摘要：本实用新型实施例提供的一种探针卡盒和芯片测试装置，该探针卡盒包括多根探针、盒体和PCB；多根探针置于盒体中；沿盒体的厚度方向，盒体包括对置的上盖板和下盖板；上盖板远离下盖板的一侧设置有电流分配层；沿探针的延伸方向，一根探针的一端透过上盖板和电流分配层的一个贯穿孔与芯片电接触，一根探针的另一端透过下盖板的一个贯穿孔与PCB电连接；各探针均与电流分配层导电接触。上述技术方案，通过设置电流分配层，将电流平均分配至各探针，解决了因各探针与芯片接触不一致导致接触处的电阻不一致，进而使得每根探针流过的电流不一致的问题，通过电流分配层将电流重新分配，减小了探针因电流分配不均，导致流过大的电流带来的烧针风险。
主权项：1.一种探针卡盒，其特征在于，应用于高功率芯片测试中，包括多根探针、盒体和PCB；多根所述探针置于所述盒体中；沿所述盒体的厚度方向，所述盒体包括对置的上盖板和下盖板；所述上盖板远离所述下盖板的一侧设置有电流分配层；所述上盖板、所述电流分配和下盖板均包括多个贯穿孔；多个所述贯穿孔和多根探针一一对应；沿所述探针的延伸方向，一根所述探针的一端透过所述上盖板和所述电流分配层的一个贯穿孔与所述芯片电接触，一根所述探针的另一端透过所述下盖板的一个贯穿孔与所述PCB电连接；各所述探针均与所述电流分配层导电接触。
全文数据：
权利要求：
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