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申请/专利权人：昂纳科技(深圳)集团股份有限公司

摘要：本发明公开了一种双纤准直器的角度测试方法及测试系统，该方法包括：当测量面位于近场位置时，获取近场光斑坐标；当测量面位于远场位置时，获取远场光斑坐标；根据所述近场光斑坐标和所述远场光斑坐标判断所述双纤准直器与所述测量面是否垂直；若不垂直，根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述双纤准直器与所述测量面的偏移角度；根据所述偏移角度对所述双纤准直器进行角度补偿以使所述双纤准直器与所述测量面垂直；若垂直，根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述第一光纤和所述第二光纤投射的两束光束之间形成的双纤角度。通过本发明可以提高测试效率。

主权项：1.一种双纤准直器的角度测试方法，其特征在于，双纤准直器包括第一光纤和第二光纤，所述方法包括：当测量面位于近场位置时，获取所述第一光纤和所述第二光纤投射到所述测量面上的近场光斑坐标；当测量面位于远场位置时，获取所述第一光纤和所述第二光纤投射到所述测量面上的远场光斑坐标；根据所述近场光斑坐标确定所述第一光纤和所述第二光纤投射到所述测量面上两光斑之间的近场中心点；根据所述远场光斑坐标确定所述第一光纤和所述第二光纤投射到所述测量面上两光斑之间的远场中心点；判断所述近场中心点和所述远场中心点是否重合，所述近场中心点和所述远场中心点重合满足：X11+X212＝X12+X222Y11+Y212＝Y12+Y222其中，所述近场光斑坐标包括由所述第一光纤投射的第一近场光斑坐标X11、Y11和由所述第二光纤投射的第二近场光斑坐标X21、Y21；所述远场光斑坐标包括由所述第一光纤投射的第一远场光斑坐标X12、Y12和由所述第二光纤投射的第二远场光斑坐标X22、Y22；若所述近场中心点和所述远场中心点重合，则判定所述双纤准直器与所述测量面垂直；若所述近场中心点和所述远场中心点不重合，则判定所述双纤准直器与所述测量面不垂直；若所述双纤准直器与所述测量面不垂直，根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述双纤准直器与所述测量面的偏移角度；根据所述偏移角度对所述双纤准直器进行角度补偿以使所述双纤准直器与所述测量面垂直，并返回继续判断所述双纤准直器与所述测量面是否垂直；若所述双纤准直器与所述测量面垂直，根据所述近场光斑坐标、所述远场光斑坐标以及近场与远场之间的距离确定所述第一光纤和所述第二光纤投射的两束光束之间形成的双纤角度。

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