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申请/专利权人：武汉钧恒科技有限公司
摘要：本发明涉及一种1.6TSR8光模块光路质量测试方法，选取多个环形通量合格和不合格的1.6TSR8光模块，并分别测试其八个光通道的环形通量EF；采用多通道光功率计测每个光模块八个光通道的光功率值；采用多通道光功率计以及光分路器测每个光模块八个光通道的光功率值；计算每个光模块各光通道的插损值ΔP；建立插损值ΔP与环形通量EF之间的关系式，确定环形通量不合格与合格情况下光模块光功率插损值所对应的分界阈值；获得待测光模块各光通道的插损值，并将该插损值与所确定的分界阈值进行大小比较，以判断该光模块的环形通量是否合格。效果为可以1次完成一个1.6TSR8光模块所有光通道的测试，大幅度提升产能。
主权项：1.一种1.6TSR8光模块光路质量测试方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、选取多个环形通量合格和不合格的1.6TSR8光模块，并分别测试其八个光通道的环形通量EF；步骤2、将每个1.6TSR8光模块八个光通道的光通过FCPC连接头（3）分别对接到多通道光功率计（1）的八个测试光口内，以测试其八个光通道的光功率值；步骤3、将每个1.6TSR8光模块八个光通道的光经八个同一分光比的光分路器（2）及FCPC连接头（3）分别对接到多通道光功率计（1）的八个测试光口内，以测试其八个光通道的光功率值；步骤4、分别对每个1.6TSR8光模块后一次与前一次所测各光通道的光功率值进行作差，以获得每个1.6TSR8光模块各光通道光经过光分路器（2）后的插损值ΔP；步骤5、建立插损值ΔP与环形通量EF之间的关系式，并根据关系式确定在判断1.6TSR8光模块环形通量不合格与合格时其光功率插损值所对应的分界阈值；步骤6、重复步骤2～步骤4，以获得待测1.6TSR8光模块各光通道的插损值，并将该插损值与步骤5所确定的分界阈值进行大小比较，以判断该1.6TSR8光模块的环形通量是否合格，若同一待测1.6TSR8光模块各光通道间插损一致性大于0.5dB，则该1.6TSR8光模块的环形通量也判为不合格。
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权利要求：
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