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申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要：本发明涉及一种用于测试时间抖动的测试装置及测试方法，特别涉及一种用于测试SPAD阵列相机时间抖动的测试装置及测试方法，解决了现有测试装置无法对SPAD阵列相机时间抖动准确测试的问题。该装置包括延时发生器、皮秒脉冲激光器、光衰减器、分光元件、光功率计、准直元件、上位机及暗箱；延时发生器输入端与待测SPAD阵列相机时间同步输出接口连接，输出端与皮秒脉冲激光器输入端连接；皮秒脉冲激光器输出端与光衰减器输入端连接；光衰减器输出端与分光元件输入端连接；分光元件一路输出给光功率计，另一路输出给准直元件；准直元件输出光斑照射在待测SPAD阵列相机被测像素上；待测SPAD阵列相机信号输出接口与上位机连接。
主权项：1.一种用于测试SPAD阵列相机时间抖动的测试装置，其特征在于：包括待测SPAD阵列相机1、延时发生器2、皮秒脉冲激光器3、光衰减器4、分光元件5、光功率计6、准直元件7、上位机8以及暗箱；所述待测SPAD阵列相机1带有供电电源9；所述延时发生器2的输入端与待测SPAD阵列相机1的时间同步输出接口连接，其输出端与皮秒脉冲激光器3的输入端连接；所述延时发生器2的时间分辨率数值小于待测SPAD阵列相机1读出电路的时间分辨率数值；所述延时发生器2用于调节延时；所述皮秒脉冲激光器3用于产生脉冲激光，其输出端与光衰减器4的输入端连接；所述光衰减器4用于调节脉冲激光的光功率，其输出端与分光元件5的输入端连接；所述分光元件5将经光衰减器4调节光功率后的脉冲激光分为两路：一路输出给光功率计6，另一路输出给准直元件7；所述光功率计6用于对经光衰减器4调节光功率后的脉冲激光的光功率进行标定；所述准直元件7用于将脉冲激光准直后输出用于测试，其输出光斑照射在待测SPAD阵列相机1的被测像素上；所述待测SPAD阵列相机1的信号输出接口与上位机8连接；所述上位机8用于采集光子计数；所述暗箱用于为准直元件7与待测SPAD阵列相机1之间的空间光传播提供测试需要的黑暗环境，所述准直元件7与待测SPAD阵列相机1设置在暗箱中。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院西安光学精密机械研究所 用于测试SPAD阵列相机时间抖动的测试装置及测试方法
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