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申请/专利权人:爱芯元智半导体股份有限公司
摘要:本申请提供一种单点测试方法、装置及电子设备,所述方法可以构建测试脚本,基于测试脚本获取待测试模块的硬件描述语言文件,并提取硬件描述语言文件的测试单点,硬件描述语言文件用于描述待测试模块的结构和执行逻辑,测试单点为待测试模块中信号的比特位。将目标测试单点设置为错误逻辑值,并运行待测试模块,以得到目标测试单点设置为错误逻辑值时待测试模块对应的测试结果。所述方法通过调用构建的测试脚本,自动对任一待测试模块内部信号进行统计、编号及随机化选择单点,并输出对应测试单点的仿真点信息,提高测试的便捷性、效率和准确性。
主权项:1.一种单点测试方法,其特征在于,所述方法包括:构建测试脚本;获取待测试模块的硬件描述语言文件,所述硬件描述语言文件用于描述所述待测试模块的结构和执行逻辑;基于所述测试脚本提取所述硬件描述语言文件的测试单点,所述测试单点为所述待测试模块中信号的比特位;将目标测试单点设置为错误逻辑值;运行所述待测试模块,以得到所述目标测试单点设置为错误逻辑值时所述待测试模块对应的测试结果。
全文数据:
权利要求:
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