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申请/专利权人：中国科学院上海高等研究院
摘要：本发明涉及一种同步辐射光束带宽的检测系统，包括沿光路走向依次排布的分析晶体和测量装置，所述分析晶体安装于滚角调节台上，所述滚角调节台的下方依次排布有投角调节台、衍射角调节台、垂直调节台和水平调节台，且所述测量装置与所述衍射角调节台连接。本发明还涉及一种同步辐射光束带宽的检测方法。本发明通过分析晶体的正交配置，解耦同步辐射单色器出射光束波长和角度的耦合，提高了光束带宽的检测精度。本发明利用分析晶体高能量分辨、成像探测器高空间分辨的特性，简化了检测过程，实现了光束能量在空间分布的精确测量。本发明可直接测量光束的角度特性，能够更加真实地反映单色器双晶衍射过程中光束带宽的特性。
主权项：1.一种同步辐射光束带宽的检测系统，其特征在于，包括沿光路走向依次排布的分析晶体和测量装置，所述分析晶体安装于滚角调节台上，所述滚角调节台的下方依次排布有投角调节台、衍射角调节台、垂直调节台和水平调节台，且所述测量装置与所述衍射角调节台连接；所述分析晶体设置为通过其衍射面接收来自单色器的同步辐射光，所述单色器包括互相平行的第一晶体和第二晶体，所述分析晶体的衍射面垂直于所述第一晶体和所述第二晶体的出射面；其中，投角调节台设置为调节所述分析晶体相对于入射的同步辐射光束的投角，使分析晶体满足光束的布拉格衍射条件；所述测量装置包括可切换的光电二极管和成像探测器，所述光电二极管用于测量衍射光通量，所述成像探测器用于探测衍射光斑；从单色器出射的同步辐射光束的带宽根据所述衍射光斑的图像来获取。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院上海高等研究院 一种同步辐射光束带宽的检测系统及方法
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