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申请/专利权人:布鲁克·道尔顿有限及两合公司
摘要:本发明涉及用于利用轴向飞行时间分析法对位于样品载体,尤其是平面样品载体板上的样品材料进行谱系分析的装置和方法。装置和方法的一种操作模式包括调整脉冲焦点位置,以便在垂直于样品载体上烧蚀和或解吸位置处切线平面的Z方向上对样品材料进行突然的烧蚀和或突然解吸,以及选择合适的设置,使经烧蚀和或解吸并电离的样品材料在飞行路径上以时滞方式加速。在质谱成像MSI中使用这些装置和方法尤其有利。这些装置和方法尤其可用于激光解吸电离LDI,尤其是基质辅助激光解吸电离MALDI。
主权项:1.用于对位于样品载体上的样品材料进行谱系分析的装置,所述装置包括:-轴向飞行时间分析仪,其飞行路径从样品载体发出;-电离装置,其布置和设计用于使用烧蚀和或解吸脉冲对样品载体上的样品材料进行局部冲击,使局部烧蚀和或解吸的样品材料电离,并作为样品材料在z方向上的位置的函数,调整沿z方向的脉冲焦点位置,所述z方向基本垂直于样品载体上烧蚀和或解吸脉冲撞击点的切线平面,-提取装置,其布置和设计用于将电离的样品材料以时滞加速到飞行路径上,其中,时滞加速与烧蚀和或解吸脉冲相协调,并使用能够从多个不同设置中选择的设置执行,这些设置设计用于z方向上多个预定的样品材料位置,-测试装置,其布置和设计用于为即将到来的烧蚀和或解吸脉冲的撞击点确定z方向上的样品材料位置,以及-控制和或引导系统,所述系统与轴向飞行时间分析仪、电离装置、提取装置和测试装置通信,并被布置和设计用于控制提取装置,使所确定的样品材料在z方向上的位置用于选择即将到来的烧蚀和或解吸脉冲之后的时滞加速的设置。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 布鲁克·道尔顿有限及两合公司 用于样品材料谱系分析的装置和方法
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