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射频电子元件测试装置及应用其的测试设备 

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申请/专利权人:鸿劲精密股份有限公司

摘要:本发明提供一种射频电子元件测试装置,包含电性测试器、天线测试器及接合机构,其接合机构设有承载器及防扰压件,承载器供装配防扰压件,且驱动防扰压件位移,防扰压件以防屏蔽材质制作,并具有低介电系数而可供无线信号通过,借以承载器承载防扰压件,使得防扰压件位于天线测试器与射频电子元件之间,不仅利用防扰压件对射频电子元件施以压接力,使射频电子元件确实接触电性测试器而执行测试作业,还供天线测试器与射频电子元件间传输的无线信号通过防扰压件而进行无线信号测试作业,进而提升测试品质。本发明还提供一种应用射频电子元件测试装置的测试设备,其包含:机台;供料装置;收料装置;射频电子元件测试装置;输送装置;中央控制装置。

主权项:1.一种射频电子元件测试装置,其特征在于,包含:电性测试器:设有电性连接的电路板及至少一测试座,该测试座供电性连接至少一位于测试工位的该射频电子元件,以对该射频电子元件执行电性测试作业;天线测试器:设有至少一信号作业件,以供对该射频电子元件执行无线信号测试作业;接合机构:设有承载器及防扰压件,该承载器作至少一方向位移,并设有贯通顶面及底面的容置部供装配该防扰压件,该防扰压件以防屏蔽材质制作,并具有低介电系数,该防扰压件具有装配面及压接面,以于该承载器承载该防扰压件,使得该防扰压件位于该天线测试器与该射频电子元件之间,该防扰压件的装配面裸露于容置部,装配面的上方是开放空间,且防干扰范围大于该射频电子元件的待测指向范围,能够通过不同角度的无线信号,并以压接面对该射频电子元件施以压接力。

全文数据:

权利要求:

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